一种存储阵列电路结构及大型存储阵列电路结构.pdf
猫巷****晓容
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一种半导体存储器的阵列结构.pdf
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存储单元阵列及其单元结构.pdf
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SRAM存储阵列的内建自测试电路设计与实现SRAM(StaticRandomAccessMemory)是一种常见的存储器设备,特点是数据存取速度快、功耗低。然而,由于SRAM内部结构的复杂性,使得其在制造和测试过程中容易出现故障,从而降低了性能和可靠性。因此,设计和实现内建自测试电路(Built-InSelf-Test,简称BIST)成为了解决SRAM故障检测和诊断的关键技术。本论文将重点探讨SRAM存储阵列的内建自测试电路的设计与实现。首先,我们将介绍SRAM的基本原理和结构,以及常见的故障类型。接着,