验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113704126A(43)申请公布日2021.11.26(21)申请号202111027785.8(22)申请日2021.09.02(71)申请人西安紫光国芯半导体有限公司地址710065陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼(72)发明人张毅侯彬(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240代理人霍文娟(51)Int.Cl.G06F11/36(2006.01)G06K9/62(2006.01)G06N3/04(2006.01)G06N3/08(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图3页(54)发明名称验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器(57)摘要本发明公开了一种验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器。其中，该方法包括：利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；获取分类后的目标参数中的负类参数，并基于负类参数生成测试激励参数，其中，负类参数为使测试用例失败的参数；利用测试激励参数对待验证模块进行验证。本发明解决了针对相关技术中现有芯片验证领域存在浪费人力资源、验证效率低、进而推迟产品上市时间的技术问题。CN113704126ACN113704126A权利要求书1/2页1.一种验证方法，其特征在于，包括：利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；获取所述分类后的目标参数中的负类参数，并基于所述负类参数生成测试激励参数，其中，所述负类参数为使测试用例失败的参数；利用所述测试激励参数对待验证模块进行验证。2.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，在利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数之前，所述方法还包括：调用随机函数基于所述测试用例中预先定义的参数生成所述目标参数。3.根据权利要求2所述的验证方法，其特征在于，调用随机函数基于测试用例中预先定义的所有参数生成所述目标参数，包括：获取所述测试用例中预先定义的至少部分参数；将所述至少部分参数约束到预定范围，得到初始参数；调用所述随机函数基于所述初始参数生成所述目标参数。4.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，在利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数之前，所述方法还包括：调用验证平台中验证环境所需的所述预定函数。5.根据权利要求4所述的验证方法，其特征在于，在调用验证平台中验证环境所需的预定函数之前，还包括：获取所述预定函数；其中，获取所述预定函数，包括：从第一数据库和第二数据库中获取样本数据，其中，所述第一数据库中存储有使测试用例验证失败的负类激励值，所述第二数据库中存储有使测试用例验证成功的正类激励值，所述样本数据中的一部分作为训练数据；利用所述训练数据对初始网络模型进行训练，得到预定分类模型；提取所述预定分类模型中算法的固定参数；对所述固定参数以及所述算法进行封装，得到所述预定函数。6.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，提取所述预定分类模型中算法的固定参数，包括：利用所述样本数据中的另外一部分作为测试数据，对所述预定分类模型进行验证，得到验证结果；在所述验证结果表示所述预定分类模型的分类准确率达到预定阈值时，提取所述预定分类模型中算法的固定参数。7.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，对所述固定参数以及所述算法进行封装，得到所述预定函数，包括：将所述固定参数和所述算法转换为C语言函数；将所述C语言函数封装为SV语言格式，得到所述预定函数。8.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，利用所述预定函数对所述目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数，包括：将所述目标参数转换为与所述测试用例对应的参数矩阵；利用所述预定函数对所述参数矩阵进行分类处理，得到分类后的目标参数。2CN113704126A权利要求书2/2页9.根据权利要求1至8中任一项所述的验证方法，其特征在于，所述验证平台为通用验证方法学UVM验证平台。10.一种验证装置，其特征在于，包括：分类模块，用于利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；第一获取模块，用于获取所述分类后的目标参数中的负类参数，并基于所述负类参数生成测试激励参数，其中，所述负类参数为使测试用例失败的参数；第一验证模块，用于利用所述测试激励参数对待验证模块进行验证。11.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，其中，所述存储器存储有程序指令，所述处理器从所述存储器调取所述程序指令以执行如权利要求1至9中任一项所述的验证方法。12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有程序文件，所述程序文件能够被执行以实现如权利要求1至9中任一项所述的验证方法。3CN113704126A说明书1/8页验证方法及其装置、计算机存储介质