故障点确定方法、装置、终端及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113858797A(43)申请公布日2021.12.31(21)申请号202111102035.2(22)申请日2021.09.18(71)申请人中国电子科技集团公司第十三研究所地址050051河北省石家庄市合作路113号(72)发明人张文朋赵英伟吴爱华翟玉卫吴海姚刚(74)专利代理机构石家庄国为知识产权事务所13120代理人李荣文(51)Int.Cl.B41F33/00(2006.01)B41F33/16(2006.01)权利要求书3页说明书13页附图7页(54)发明名称故障点确定方法、装置、终端及存储介质(57)摘要本发明提供一种故障点确定方法、装置、终端及存储介质。该方法包括：获取目标物体上第一实际图形与对应的理想图形在第一方向的第一偏移量和在与第一方向垂直的第二方向的第二偏移量；第一实际图形为目标物体上关于目标物体的中心对称的至少两组实际图形；根据各个第一偏移量和第二偏移量，确定目标物体在第一方向的第一实际偏移量和第二方向的第二实际偏移量；根据第一实际偏移量和第二实际偏移量，确定目标物体的偏移角度。本发明能够根据目标物体上的少量实际图形和理想图形，确定目标物体的第一实际偏移量、第二实际偏移量和偏移角度，进而解决目标物体的偏移量和偏移角度难以确定的问题，从而方便目标物体对应的目标设备的故障点确定。CN113858797ACN113858797A权利要求书1/3页1.一种故障点确定方法，其特征在于，包括：获取目标物体上第一实际图形与对应的理想图形在第一方向的第一偏移量和在第二方向的第二偏移量，所述第一方向与所述第二方向相互垂直，所述第一实际图形为所述目标物体上关于所述目标物体的中心对称的至少两组实际图形，所述第一实际图形中的每个实际图形对应一个所述第一偏移量和一个所述第二偏移量；根据各个所述第一偏移量和各个所述第二偏移量，确定所述目标物体在所述第一方向的第一实际偏移量和所述第二方向的第二实际偏移量；根据所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量，确定所述目标物体的偏移角度；所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量和所述偏移角度用于确定所述目标物体对应的目标设备的故障点。2.根据权利要求1所述的故障点确定方法，其特征在于，所述第一实际图形包括第一组实际图形和第二组实际图形；所述根据各个所述第一偏移量和各个所述第二偏移量，确定所述目标物体在所述第一方向的第一实际偏移量和所述第二方向的第二实际偏移量，包括：根据所述第一组实际图形对应的所述第一偏移量和所述第二偏移量建立第一方程式；根据所述第二组实际图形对应的所述第一偏移量和所述第二偏移量建立第二方程式；根据所述第一方程式和所述第二方程式，确定所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量。3.根据权利要求2所述的故障点确定方法，其特征在于，所述第一组实际图形中包含关于所述目标物体的中心对称的实际图形二和实际图形四，所述第一方程式为：其中，δ2y为所述实际图形二对应的第一偏移量，δ2x为所述实际图形二对应的第二偏移量，δ4y为所述实际图形四对应的第一偏移量，δ4x为所述实际图形四对应的第二偏移量，Δy为所述第一实际偏移量，Δx为所述第二实际偏移量。4.根据权利要求2所述的故障点确定方法，其特征在于，所述第二组实际图形中包含关于所述目标物体的中心对称的实际图形一和实际图形三，所述第二方程式为：其中，δ1y为所述实际图形一对应的第一偏移量，δ1x为所述实际图形一对应的第二偏移量，δ3y为所述实际图形三对应的第一偏移量，δ3x为所述实际图形三对应的第二偏移量，Δy为所述第一实际偏移量，Δx为所述第二实际偏移量。5.根据权利要求1所述的故障点确定方法，其特征在于，所述根据所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量，确定所述目标物体的偏移角度，包括：根据所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量，以及所述目标物体上的任一实际图形对应的第一偏移量和第二偏移量，确定所述偏移角度。6.根据权利要求5所述的故障点确定方法，其特征在于，所述根据所述第一实际偏移量和所述第二实际偏移量，以及所述目标物体上的任一实际图形对应的第一偏移量和第二偏2CN113858797A权利要求书2/3页移量，确定所述偏移角度，包括：根据或确定所述偏移角度；其中，θ为所述偏移角度，δiy为所述目标物体上的任一实际图形i对应的第一偏移量，δix为所述目标物体上的任一实际图形i对应的第二偏移量，Δy为所述第一实际偏移量，Δx为所述第二实际偏移量，nx为所述目标物体上各个实际图形在所述第二方向的列数之和，ny为所述目标物体上各个实际图形在所述第一方向的行数之和，lix为所述目标物体上的任一实际图形i所在的列数，liy为所述目标物体上的任一实际图形i所在的行数，d为相邻两行或