一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113920117A(43)申请公布日2022.01.11(21)申请号202111520877.X(22)申请日2021.12.14(71)申请人成都数联云算科技有限公司地址610000四川省成都市高新区吉泰五路88号3栋5层8号、9号(72)发明人不公告发明人(74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司44202代理人王志(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/11(2017.01)G06T7/73(2017.01)G06T3/00(2006.01)权利要求书2页说明书10页附图5页(54)发明名称一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本发明涉及人工智能领域，揭露一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。本发明可以实现面板缺陷区域的快速定位，提高面板缺陷区域的检测通用性。CN113920117ACN113920117A权利要求书1/2页1.一种面板缺陷区域检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标记所述面板图像的定位区域，包括：接收所述面板图像的缺陷检测请求，根据所述缺陷检测请求，识别所述面板图像的缺陷描述信息；根据所述缺陷描述信息，标记所述缺陷检测请求在所述面板图像中的定位区域。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述缺陷检测请求，识别所述面板图像的缺陷描述信息，包括：识别所述缺陷检测请求的缺陷检测类型，并提取所述缺陷检测请求的缺陷检测特征；将所述缺陷检测类型和所述缺陷检测特征作为所述面板图像的缺陷描述信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述识别所述定位区域的定位坐标，包括；获取所述定位区域的顶点位置和中心位置，根据预先在所述定位区域的面板图像中构建的坐标系，计算所述顶点位置和所述中心位置的坐标，分别得到顶点坐标和中心坐标；根据所述顶点坐标和所述中心坐标，生成所述定位区域的定位坐标。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，包括：根据所述定位坐标中的顶点坐标，确定在所述查找区域中所述定位区域的搜索坐标；根据所述定位坐标中的中心坐标，定义在所述查找区域中所述定位区域的搜索方向；根据所述搜索坐标和所述搜索方向，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域，包括：识别所述相似区域中的图像方向是否处于正方向；若所述图像方向不处于正方向，采用仿射变换算法将所述相似区域进行方向校正，得到目标区域；若所述图像方向处于正方向，则将所述相似区域作为目标区域。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域，包括：识别所述定位区域和所述目标区域的起始位置和终止位置；根据所述定位区域和所述目标区域的起始位置和终止位置，利用预设的图像裁剪工具分别对所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，将裁剪后的所述定位区域和所述目标区域作为所述面板图像的待检测区域。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待检测区域与预设的标准区域2CN113920117A权利要求书2/2页进行缺陷差分处理，得到差分图像，包括：识别所述待检测区域与所述标准区域具有相同序列位置的第一像素和第二像素；对所述第一像素和所述第二像素进行相减处理，得到相减像素；根据所述相减像素，生成所述待检测区域的差分图像。9.根据权利要求1至8中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域，包括：标记所述差分图像中存在像素差的像素位置，根据所述像素