芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114121140A(43)申请公布日2022.03.01(21)申请号202210104044.3(22)申请日2022.01.28(71)申请人合肥悦芯半导体科技有限公司地址230000安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层(72)发明人朴英斗宋秀良刘金海(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463代理人蒋姗(51)Int.Cl.G11C29/56(2006.01)权利要求书3页说明书13页附图5页(54)发明名称芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质(57)摘要本申请提供一种芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质，涉及集成电路测试技术领域。该方法包括：对初始转换器进行校准，得到目标转换器，初始转换器和目标转换器均为模拟数字转换器；基于目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；基于校准电压数据和目标转换器，对测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据。本申请能够在芯片测试时采用校准后的转换器对测试得到的电压数据和电流数据进行高精度、高效率地校准，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，减少了校准时的操作时间，还能够同时对多个不同的通道进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。CN114121140ACN114121140A权利要求书1/3页1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：对初始转换器进行校准，得到目标转换器，所述初始转换器和所述目标转换器为模拟数字转换器；基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对初始转换器进行校准，得到目标转换器，包括：根据输入所述初始转换器的电压参数，得到校准参数，其中，所述校准参数包括校准偏移参数和校准斜率参数；基于所述校准参数对所述初始转换器进行校准，得到所述目标转换器。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电流数据包括所述测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，所述电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；所述基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，包括：基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以所述校准测试电流数据和所述校准施加电流数据为所述校准电流数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据，包括：根据获取的所述测试电流数据对应的所述第一电流通道设置测试电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第一目标通道；基于测试量程确定对应的第一目标电阻；基于所述校准施加电压数据对应的施加电压参数在所述第一目标通道中设置预设施加电压值；基于所述预设施加电压值和所述第一目标电阻确定所述目标转换器中的协议端口电流值；在所述目标转换器中采集得到所述协议端口电流值对应的目标测试电流值；基于所述协议端口电流值和所述目标测试电流值进行计算，得到测试电流参数，其中，所述测试电流参数包括测试电流斜率参数和测试电流偏移参数；根据所述测试电流参数和所述测试电流数据进行计算，得到所述校准测试电流数据。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，包括：根据获取的所述施加电流数据对应的所述第二电流通道设置施加电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第二目标通道；基于测试量程确定对应的第二目标电阻；2CN114121140A权利要求书2/3页在所述第二目标通道中设置预设施加电流值；基于所述目标转换器中的端口电压值与所述第二目标电阻确定目标施加电流值；基于所述预设施加电流值和所述目标施加电流值进行计算，得到施加电流参数，其中，所述施加电流参数包括施加电流斜率参数和施加电流偏移参数；根据所述施加电流参数和所述施加电流数据进行计算，得到所述校准施加电流数据。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述电压数据包括所述测试芯片的施加电压数据和测试电压数据，所述电压通道包括第一电压通道和第二电压通道；所述基于所述目标转换器对测试芯片的电