基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114152794A(43)申请公布日2022.03.08(21)申请号202111345160.6G01R31/12(2006.01)(22)申请日2021.11.15(71)申请人国网上海市电力公司地址200122上海市浦东新区自由贸易试验区源深路1122号申请人华东电力试验研究院有限公司上海交通大学(72)发明人任茂鑫王劭菁舒博徐鹏周海洋钱勇(74)专利代理机构上海科盛知识产权代理有限公司31225代理人丁云(51)Int.Cl.G01R15/00(2006.01)G01R35/00(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图6页(54)发明名称基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置(57)摘要本发明涉及一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置，所述的工装包括固定环、法兰盘、夹持组件、角度调节组件，所述的法兰盘安装在固定环内圈中并可沿固定环内圈周向旋转，所述的夹持组件设置多组并沿法兰盘周向均匀分布在其边缘，所述的夹持组件为径向距离可调的夹持组件，安装传感器时，多组夹持组件与传感器侧面接触并夹持，所述的角度调节组件设置在法兰盘和固定环上，所述的角度调节组件用于调整法兰盘相对固定环的旋转角度并固定所述的法兰盘的位置。与现有技术相比，本发明能够精确调节传感器的位置和角度，解决了目前测试方法存在结果一致性较差的问题。CN114152794ACN114152794A权利要求书1/2页1.一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，包括固定环(1)、法兰盘(2)、夹持组件(3)、角度调节组件(4)，所述的法兰盘(2)安装在固定环(1)内圈中并可沿固定环(1)内圈周向旋转，所述的夹持组件(3)设置多组并沿法兰盘(2)周向均匀分布在其边缘，所述的夹持组件(3)为径向距离可调的夹持组件(3)，安装传感器时，多组夹持组件(3)与传感器侧面接触并夹持，所述的角度调节组件(4)设置在法兰盘(2)和固定环(1)上，所述的角度调节组件(4)用于调整法兰盘(2)相对固定环(1)的旋转角度并固定所述的法兰盘(2)的位置。2.根据权利要求1所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的法兰盘(2)包括法兰盘面(21)和安装环(22)，所述的安装环(22)和法兰盘面(21)同轴安装，所述的法兰盘面(21)周侧设有外凸的凸缘(23)，对应的所述的固定环(1)内圈底部设有与所述的凸缘(23)适配的凹槽(13)，所述的凸缘(23)卡入所述的凹槽(13)中旋转设置，所述的夹持组件(3)安装在所述的安装环(22)上将所述的传感器夹持固定在所述的法兰盘面(21)上。3.根据权利要求2所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的夹持组件(3)包括滑块(31)、限位固定块(32)和锁紧件，所述的限位固定块(32)安装在所述的安装环(22)上，所述的限位固定块(32)上设有用于限制滑块(31)沿法兰盘面(21)径向滑动的滑动口，所述的滑块(31)安装在所述的滑动口中，当滑块(31)滑动到位后，所述的滑块(31)通过所述的锁紧件与所述的限位固定块(32)锁紧。4.根据权利要求3所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的滑块(31)包括滑条和挡板(43)，所述的挡板(43)固定在滑条一端部，所述的滑条滑动安装在所述的限位固定块(32)的滑动口中，所述的挡板(43)用于与所述的传感器侧面抵触压紧所述的传感器。5.根据权利要求4所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的滑条上设有标记其滑动距离的刻度线。6.根据权利要求2所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的角度调节组件(4)包括安装在固定环(1)上的活动式固定销以及设置在法兰盘(2)上安装环(22)周侧的锁紧孔(24)，所述的锁紧孔(24)沿安装环(22)周向均匀分布若干个，当所述的法兰盘(2)转动到位后，所述的活动式固定销插入对应位置处的锁紧孔(24)中将所述的法兰盘(2)和固定环(1)锁紧固定。7.根据权利要求6所述的一种基于GTEM小室的特高频局部放电传感器性能测试工装，其特征在于，所述的活动式固定销包括套筒(41)、顶针(42)和挡板(43)，所述的套筒(41)固定在所述的固定环(1)上，所述的套筒(41)设有中空滑动槽，所述的挡板(43)设置在所述的套筒(41)一端端部，所述的顶针(42)的头部穿过所述的挡板(43)安装在所述的套筒(41)的中空滑动槽中，所述的顶针(42)的头部为与所述的锁紧孔(