触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114201072A(43)申请公布日2022.03.18(21)申请号202111432983.2(22)申请日2021.11.29(71)申请人深圳市德明利技术股份有限公司地址518000广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋A座2501、2401(72)发明人李耀荣卢建金(74)专利代理机构深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙)44439代理人何兵(51)Int.Cl.G06F3/041(2006.01)G01R31/28(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图2页(54)发明名称触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质(57)摘要本发明公开了一种触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质，该方法包括获取待校准触控芯片的各个基础RC校准值的基础测试频率；基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。由此，通过两轮测试，基于测试频率与理想频率的差值即可确定目标RC校准值，实现了触控芯片的快速、准确校准。CN114201072ACN114201072A权利要求书1/2页1.一种触控芯片的校准方法，其特征在于，所述方法应用于触控芯片的校准设备，所述方法包括：获取待校准触控芯片的各个基础RC(电阻‑电容，Resistor‑Capacitance)校准值的基础测试频率；基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值的步骤包括：计算各个基础测试频率与理想频率的基础测试频率差值，将基础测试频率差值最小的基础测试频率对应的基础RC校准值确定为初选RC校准值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤包括：将所述初选RC校准值所在的校准值区间确定为目标校准值范围；所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤之后还包括：将所述待校准触控芯片的测试RC校准值依次设置为所述目标校准值范围内的多个初选RC校准值；进行频率测试后，记录与多个所述初选RC校准值对应的初选测试频率。4.根据权利要求3中所述的方法，其特征在于，所述从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值的步骤包括：将所述目标校准值范围内的各个初选RC校准值的初选测试频率与所述理想频率进行对比；将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值的步骤之前还包括：将所述差值最小的初选测试频率对应的差值与预设差值进行对比，若所述差值大于所述预设差值，则发出警告信息。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待校准触控芯片的各个基础RC校准值的基础测试频率的步骤之前还包括：设置所述待校准触控芯片的所述基础RC校准值，基于所述基础RC校准值划分出多个校准值区间。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值的步骤之后还包括：获取所述待校准触控芯片运行的限定频率，基于所述限定频率进行频率测试，获得作为所述待校准触控芯片的限定RC校准值。8.一种触控芯片的校准装置，其特征在于，所述触控芯片的校准装置包括：获取模块，用于获取待校准触控芯片的各个基础RC(电阻‑电容，Resistor‑2CN114201072A权利要求书2/2页Capacitance)校准值的基础测试频率；第一确定模块，用于基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；第二确定模块，用于基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；第三确定模块，用于从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。9.一种触控芯片的校准设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上的触控芯片的校准程序，所述触控芯片的校准程序被所述处理器运行时实现如权利要求1‑7中任一项所述的方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有触控芯片的校准程