射频测试方法、智能终端及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114301550A(43)申请公布日2022.04.08(21)申请号202111637929.1(22)申请日2021.12.29(71)申请人重庆传音通讯技术有限公司地址401102重庆市渝北区仙桃街道数据谷东路19号(72)发明人蒋与伦邓乐安陈林杨道庄(74)专利代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司11205代理人杨泽刘芳(51)Int.Cl.H04B17/14(2015.01)H04B17/21(2015.01)H04B17/15(2015.01)H04B17/29(2015.01)H04M1/24(2006.01)权利要求书2页说明书13页附图4页(54)发明名称射频测试方法、智能终端及存储介质(57)摘要本申请提出了一种射频测试方法、智能终端及存储介质，应用于控制端，控制端与射频单元和测试单元连接，射频单元和测试单元分别与开关连接，射频单元包括至少一个测试端口，开关包括至少一个开关通道，所述方法包括：发送目标校准指令至射频单元，以使射频单元控制目标开关通道导通，通过目标开关通道，控制测试单元对目标测试端口进行测试和/或校准。解决了现有连接方式中各零件占用较大内部空间，限制了整机内部零部件摆放的问题，同时也降低了整机成本。CN114301550ACN114301550A权利要求书1/2页1.一种射频测试方法，其特征在于，应用于控制端，所述控制端与射频单元和测试单元连接，所述射频单元和所述测试单元分别与开关连接，所述射频单元包括至少一个测试端口，所述开关包括至少一个开关通道，所述方法包括：S10：发送目标校准指令至所述射频单元，以使所述射频单元控制目标开关通道导通；S20：通过所述目标开关通道，控制所述测试单元对目标测试端口进行测试和/或校准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S20包括：获取所述目标开关通道对应的目标补偿校准数据；通过所述目标开关通道，控制所述测试单元根据所述目标补偿校准数据对目标测试端口进行测试和/或校准。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述S10之前，还包括：获取所述开关中各输入端口对应的实际损耗值以及各所述开关通道对应的参考损耗值；将所述参考损耗值与所述实际损耗值做差值处理，以得到各所述开关通道对应的补偿校准数据。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，在所述S20之后，还包括：接收所述测试单元发送的校准异常提示，判断所述校准异常提示的次数是否超过预设次数阈值；若否，则再次执行所述S10；若是，则输出校准失败提示。5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述S10包括：根据校准规则确定各所述测试端口的校准顺序；根据所述校准顺序确定或生成针对所述测试端口的校准指令，并根据所述校准指令依次执行所述S10。6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述S20包括：若所述开关通道的数量为至少两个，则通过第一目标开关通道，控制所述测试单元对第一目标测试端口进行测试和/或校准；在所述第一目标测试端口测试和/或校准完成之后，通过第二目标开关通道，控制所述测试单元依次对至少一第二目标测试端口进行测试和/或校准。7.一种射频测试系统，其特征在于，包括：控制端、开关、射频单元以及测试单元；其中：所述射频单元和所述测试单元分别与所述开关连接，所述射频单元包括至少一个测试端口，所述开关包括至少一个开关通道；所述控制端用于发送目标校准指令至所述射频单元，以使所述射频单元控制目标开关通道导通，并通过所述目标开关通道，控制所述测试单元对目标测试端口进行测试和/或校准。8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述测试单元包括射频连接器和测试仪表，所述射频连接器的一端与所述开关的任一个输入端连接，所述射频连接器的另一端与所述测试仪表连接，所述测试仪表与所述控制端连接。9.一种智能终端，其特征在于，所述智能终端包括：存储器、处理器，其中，所述存储器上存储有射频测试程序，所述射频测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任2CN114301550A权利要求书2/2页一项所述的射频测试方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的射频测试方法的步骤。3CN114301550A说明书1/13页射频测试方法、智能终端及存储介质技术领域[0001]本申请涉及射频测试技术领域，具体涉及一种射频测试方法、智能终端及存储介质。背景技术[0002]终端设备在设计以及生产过程中，为了保证各零部件射频性能的准确，需要对各零部件进行射频测试，等待各零部件射频性能测试通过之后才可以进行组装，得到整机。[