SMT首件测试方法、装置、计算机设备.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114331087A(43)申请公布日2022.04.12(21)申请号202111595289.2(22)申请日2021.12.24(71)申请人赣州深奥科技有限公司地址341000江西省赣州市章贡区水西有色冶金基地冶金南路标准厂房4#厂房(72)发明人李秋明(74)专利代理机构南昌金轩知识产权代理有限公司36129代理人张震东(51)Int.Cl.G06Q10/06(2012.01)G06Q50/04(2012.01)G06F16/14(2019.01)权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称SMT首件测试方法、装置、计算机设备(57)摘要本发明实施例公开了SMT首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质，在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件，然后，在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径，之后，根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试；采用计算机设备对测试路径进行规划并对工作人员的测试提供路径指示，使得工作人员使用LCR仪器测试SMT首件上的元件时不容易出错，而且工作人员的测试在计算机设备的辅助下，提高了工作人员的测试效率。CN114331087ACN114331087A权利要求书1/2页1.一种SMT首件测试方法，其特征在于，所述方法包括：在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件和/或目视类元件；在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径，包括：在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的坐标母区域；根据所述待测试元件的坐标母区域，沿Y轴将所述坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域；确定各个所述坐标子区域内的起始点，计算得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离；按照各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离的递增排序，得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件的检查项列表；沿Y轴方向将各个所述坐标子区域内的检查项列表按顺序排列得到测试列表，根据所述测试列表，确定所述待测试元件的测试路径。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：响应于所述待测试元件为测量类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印和方向；响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在元件数据文档中区分出待测试元件，包括：根据正则表达式计算策略在元件数据文档中区分出所述测量类元件和/或所述目视类元件。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，将所述待测试元件的坐标转换为像素坐标；根据所述待测试元件的像素坐标，将所述待测试元件叠加分布到丝印图上；将叠加分布有所述待测试元件的所述丝印图显示在屏幕上。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试元件的测试路径，依2CN114331087A权利要求书2/2页次对所述待测试元件进行测试，还包括：根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试并记录下所述待测试元件的测试结果；根据所述待测试元件的测试结果，输出所述待测试元件的测试文档。8.一种SMT首件测试装置，包括：第一确定模块，用于在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围；第二确定模块，用于在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；测试模块，用于根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。9.一种