一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法及装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115015818A(43)申请公布日2022.09.06(21)申请号202210616864.0(22)申请日2022.06.01(71)申请人中电科思仪科技股份有限公司地址266555山东省青岛市黄岛区香江路98号(72)发明人顾宗静刘文辉李明太曹志英梁胜利王雁鹏(74)专利代理机构济南圣达知识产权代理有限公司37221专利代理师李琳(51)Int.Cl.G01R35/00(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图3页(54)发明名称一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法及装置(57)摘要本发明属于相位校准装置定标领域，提供了一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法及装置，针对现有技术对目标波形进行选取时，等效采样示波器将不同周期不同位置点采样信号重构到单个周期范围内完成目标波形的测量与采集，该种信号采集方式对时域信号中的窄脉冲信号采样点数不足，无法完整重构出时域信号波形，进而无法反应出对应频域信号的完整信息的问题，确保单个时窗的采样点数最大的前提下，增加时域信号采样分段，每段数据对应位置的数据进行相加，对各时窗采集的时域信号进行信号重构，最大程度地保留窄脉冲信号的完整信息，划分时间段的数目越多，信号信息保留越完整。CN115015818ACN115015818A权利要求书1/2页1.一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法，其特征在于，包括：获取梳状波发生器的脉冲输入信号；将脉冲输入信号按照脉冲时域信号的周期分为多个时窗，对各个时窗进行采样，得到各个时窗采集的时域信号；将各时窗采集的时域信号进行信号重构，获得完整的时域信号；基于完整的时域信号进行FFT变换得到初级相位谱；对初级相位谱进行相位谱平坦度处理，得到定标完成的相位谱曲线。2.如权利要求1所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法，其特征在于，所述将各时窗采集的时域信号进行信号重构，获得完整的时域信号包括：确保单个时窗的采样点数最大的前提下，增加时域信号采样分段，每段数据对应位置的数据进行相加，对各时窗采集的时域信号进行信号重构。3.如权利要求1所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法，其特征在于，所述对初级相位谱进行相位谱平坦度处理包括相位谱去卷绕、相位归一化处理以及相位变换操作。4.如权利要求1所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法，其特征在于，所述相位变换操作为通过角度变换，将相位变换到±180°附近。5.如权利要求1所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法，其特征在于，所述获取梳状波发生器的脉冲输入信号中，采用矢量网络分析仪后面板的参考输出作为梳状波发生器的输入触发，输出端接入量值溯源完成的等效采样示波器输入端口；6.一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标装置，其特征在于，包括：输入信号获取模块，被配置为：获取梳状波发生器的脉冲输入信号；初级相位谱获取模块，被配置为：时域信号采集将脉冲输入信号按照脉冲时域信号的周期分为多个时窗，对各个时窗进行采样，得到各个时窗采集的时域信号；定标相位谱获取模块，被配置为：将各时窗采集的时域信号进行信号重构，获得完整的时域信号；基于完整的时域信号进行FFT变换得到初级相位谱；对初级相位谱进行相位谱平坦度处理，得到定标完成的相位谱曲线。7.如权利要求6所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标装置，其特征在于，所述定标相位谱获取模块，被配置为：将各时窗采集的时域信号进行信号重构，获得完整的时域信号包括：确保单个时窗的采样点数最大的前提下，增加时域信号采样分段，每段数据对应位置的数据进行相加，对各时窗采集的时域信号进行信号重构。8.如权利要求6所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标装置，其特征在于，所述定标相位谱获取模块，被配置为：所述对初级相位谱进行相位谱平坦度处理包括相位谱去卷绕、相位归一化处理以及相位变换操作。9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1‑5中任一项所述的一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法中的步骤。10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1‑5中任一项所述的一2CN115015818A权利要求书2/2页种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法中的步骤。3CN115015818A说明书1/6页一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法及装置技术领域[0001]本发明属于相位校准装置定标领域，尤其涉及一种用于矢量参数测试的相位校准装置定标方法及装置。背景技术[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息，不必然构成在先技术