预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/6
2/6
3/6
4/6
5/6
6/6

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

直拉单晶硅的制备工艺 内容提要:单晶硅根据硅生长方向的不同分为区熔单晶硅,外延单晶 硅和直拉单晶硅。直拉单晶硅的制备工艺一般包括多晶硅的装料和熔 化,种晶,缩颈,放肩,等径和收尾。目前,单晶硅的直拉生长法已 经是单晶硅制备的主要技术,也是太阳电池用单晶硅的主要制备方法。 关键词:直拉单晶硅,制备工艺 一,直拉单晶硅的相关知识 硅单晶是一种半导体材料。直拉单晶硅工艺学是研究用直拉方 法获得硅单晶的一门科学,它研究的主要内容:硅单晶生长的一般原 理,直拉硅单晶生长工艺过程,改善直拉硅单晶性能的工艺方法。 直拉单晶硅工艺学象其他科学一样,随着社会的需要和生产的 发展逐渐发展起来。十九世纪,人们发现某些矿物,如硫化锌、氧化 铜具有单向导电性能,并用它做成整流器件,显示出独特的优点,使 半导体材料得到初步应用。后来,人们经过深入研究,制造出多种半 导体材料。1918年,切克劳斯基(JCzochralski)发表了用直拉法从 熔体中生长单晶的论文,为用直拉法生长半导体材料奠定了理论基础, 从此,直拉法飞速发展,成为从熔体中获得单晶一种常用的重要方法。 目前一些重要的半导体材料,如硅单晶,锗单晶,红宝石等大部分是 用直拉法生长的。直拉锗单晶首先登上大规模工业生产的舞台,它工 艺简单,生产效率高,成本低,发展迅速;但是,锗单晶有不可克服 的缺点:热稳定性差,电学性能较低,原料来源少,应用和生产都受 到一定限制。六十年代,人们发展了半导体材料硅单晶,它一登上半 导体材料舞台,就显示了独特优点:硬度大,电学热稳定性好,能在 较高和较低温度下稳定工作,原料来源丰富。地球上25.8%是硅,是 地球上锗的四万倍,真是取之不尽,用之不竭。因此,硅单晶制备工 艺发展非常迅速,产量成倍增加,1964年所有资本主义国家生产的 单为晶硅50-60吨,70年为300-350吨,76年就达到1200吨。其 中60%以上是用直拉法生产的。 随着单晶硅生长技术的发展,单晶硅生长设备也相应发展起来, 以直拉单晶硅为例,最初的直拉炉只能装百十克多晶硅,石英坩埚直 径为40毫米到60毫米,拉制单晶长度只有几厘米,十几厘米,现在 直拉单晶炉装多晶硅达40斤,石英坩埚直径达350毫米,单晶直径 可达150毫米,单晶长度近2米,单晶炉籽晶轴由硬构件发展成软构 件,由手工操作发展成自动操作,并进一步发展成计算机操作,单晶 炉几乎每三年更新一次。大规模和超大规模集成电路的发展,给电 子工业带来一场新的革命,也给半导体材料单晶硅带来新的课题。大 规模和超大规模集成电路在部分用直拉单晶硅制造,制造集成电路的 硅片上,各种电路密度大集成度高,要求单晶硅有良好的均匀性和高 度的完美性。以4k位集成电路为例,在4×4毫米或4×6毫米的 硅片上,做四万多个元件,还要制出各元件之间的连线,经过几十道 工序,很多次热处理。元件的高密度,复杂的制备工艺,要保证每个 元件性能稳定,除制作集成电路工艺成熟外,对硅单晶材料质量要求 很高:硅单晶要有合适的电阻率和良好的电阻率均匀性,完美的晶体 结构,良好的电学性能。因此,硅单晶生长技术要更成熟、更精细、 更完善,才能满足集成电路的要求。直拉单晶硅工艺理论应不断地向 前发展。 二,直拉单晶硅的制备工艺 (一),工艺概述 直拉法生产硅单晶工艺尽管种类繁多,但大体可分为:真空工艺、 气氛工艺和减压拉晶工艺。真空工艺又分低真空工艺和高真空工艺。 真空工艺的特点是在单晶炉膛内保持真空情况下拉制硅单晶。低真空 工艺单晶炉膛内真空度保持10-1~10-2乇,高真空工艺单晶炉膛保 持10-3乇或更高的真空度。硅单晶拉制过程中单晶炉膛内充高纯氩 气做保护气体,称为气氛工艺。气氛工艺中又有流动气氛和不流动气 氛两种。在拉制硅单晶时一次充入单晶炉膛内0.2~0.4kg压强高纯氩 气(表压),称为不流动气氛;拉制硅单晶时,连续不断地向单晶 炉膛内充入高纯氩,保护炉膛内气体是正压(表压),同时又使部分 氩气沿管道向外溢出,这种工艺称为流动气氛。 近几年又出现了介于真空工艺和气氛工艺之间减压拉晶工艺。 减压拉晶是在单晶硅拉制过程中,连续向单晶炉膛充入等量的高纯氩 气,同时真空泵不断地从炉膛内向外抽气,保持炉膛内稳定在10乇~ 20乇真空内,这种工艺既有真空工艺的特点(炉膛内保持负压),又 有流动气氛的特点(不断充气,不断排气),减压工艺在目前直拉 单晶硅生产过程中被普遍采用。 (二),各项工艺步骤的特点 1.多晶硅的装料和熔化 a.粉碎至适当大小 b.装料时,底部不能有过多的空隙,不能碰到坩埚上边沿 c.抽真空,充入保护气 d.加热温度高于1412℃