Garfield的可测性设计技术研究的开题报告.docx

Garfield的可测性设计技术研究的开题报告开题报告题目：Garfield的可测性设计技术研究姓名：XXX学号：XXXX指导教师：XXX一、研究背景和意义随着现代电子器件技术的不断进步发展，电子产品的复杂度也越来越高，大型集成电路的设计难度和测试难度日益增加。为了满足不断提高的品质和可靠性要求，可测性设计概念应运而生。可测性设计是在保持正确性和可靠性的前提下，增加测试延迟，减少错误发现所需时间和测试用例的数量，降低了测试成本。Garfield是一种可测性设计技术，旨在使复杂的集成电路更易于测试和维护，提高了检测故障的效率。二、研究内容和重点1.Garfield可测性设计技术的基本概念和原理，分析其可测试性的关键特征，探讨Garfield技术在大规模集成电路的测试中的应用。2.了解Garfield工具如何使用在不同的设计场景中，如数据通路、存储器和控制电路，研究其测试生成结构。3.实验验证Garfield技术的可靠性和实用性，通过模拟和实际测试数据进行模拟和分析，测试其在错误检测和故障诊断方面的能力。三、预期研究结果通过本研究，预计可以深入挖掘Garfield技术的优势和局限性，进一步改进和优化Garfield技术的测试生成质量和效率。同时，结合实际应用场景，完善Garfield技术的可靠性和实用性，在大规模集成电路设计中实现高效的测试和对故障的快速诊断和纠正。四、研究计划第一阶段（1个月）：搜集和阅读相关文献，深入了解Garfield技术的基本原理和在大规模集成电路测试领域应用的现状。第二阶段（2个月）：分析Garfield技术的可测试性的关键特征，并在不同的设计场景中使用Garfield工具进行仿真，研究其测试生成结构。第三阶段（3个月）：收集模拟和实际测试数据，研究Garfield技术在错误检测和故障诊断方面的能力。第四阶段（2个月）：总结结论，撰写论文并进行答辩。五、参考文献1.黄宸如.集成电路可测性设计及测试技术.青岛：中国海洋大学,2014.2.管思维.集成电路测试技术.北京：清华大学出版社,2011.3.LiuC,ParriloPA,FerreiraJA.Algebraicmethodsforcodeequivalenceinsynthesisandtest.ACMTransactionsonDesignAutomationofElectronicSystems(TODAES),2005,10(3):405-436.4.ReddySM.BIST:Built-inself-testforVLSI.IEEEDesign&TestofComputers,1994,11(4):18-28.5.WunderlichHJ,etal.Embeddeddeterministictest.Springer,2002.