一种土壤样品研磨工具.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107884245A(43)申请公布日2018.04.06(21)申请号201711292719.7(22)申请日2017.12.08(71)申请人青岛农业大学地址266109山东省青岛市城阳区长城路700号(72)发明人邹晓霞张晓军王铭伦王月福(74)专利代理机构北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙)11531代理人李宏伟(51)Int.Cl.G01N1/28(2006.01)G01N1/38(2006.01)权利要求书1页说明书2页附图1页(54)发明名称一种土壤样品研磨工具(57)摘要本发明公开了一种土壤样品研磨工具，防尘罩上端设有漏斗状进土口，进土口的上部开口位于防尘罩外部，进土口的底部开口位于防尘罩内的两个初级研磨棒之间，防尘罩可拆卸安装在研磨支架上；两个初级研磨棒下方设有精细研磨仓，底座安装在研磨支架下部，电机安装在底座上，初级研磨棒通过驱动轴与电机相连，精细研磨仓包括固定研磨盘和两个可调研磨壁，固定研磨盘安装在研磨支架上，通过驱动轴与电机相连，两个可调研磨壁分别位于固定研磨盘的两侧，研磨支架底端两侧各留有一个出土口，出土口下面各接有一个储土仓，储土仓可自由拆卸。本发明的有益效果是结构简单，操作简便，研磨效率高且充分均匀。CN107884245ACN107884245A权利要求书1/1页1.一种土壤样品研磨工具，包括防尘罩(1)、初级研磨棒(2)、精细研磨仓(3)、研磨支架(4)、底座(5)、电动机(6)；所述防尘罩(1)上端设有漏斗状进土口(11)，进土口(11)的上部开口位于防尘罩(1)外部，进土口(11)的底部开口位于防尘罩(1)内的两个初级研磨棒(2)之间，防尘罩(1)可拆卸安装在研磨支架(4)上；两个初级研磨棒(2)下方设有精细研磨仓(3)，底座(5)安装在研磨支架下部，电机(6)安装在底座5上，初级研磨棒(2)通过驱动轴(21)与电机(6)相连，精细研磨仓(3)包括固定研磨盘(31)和两个可调研磨壁(32)，固定研磨盘(31)安装在研磨支架(4)上，通过驱动轴(33)与电机(6)相连，两个可调研磨壁(32)分别位于固定研磨盘(31)的两侧，能够通过螺盘(34)调节与固定研磨盘(31)之间距离的大小，以控制研磨土壤的研磨粒级；研磨支架(4)底端两侧各留有一个出土口(41)，出土口(41)下面各接有一个储土仓(42)，储土仓可自由拆卸，以方便转移研磨好的土壤。2.按照权利要求1所述一种土壤样品研磨工具，其特征在于：所述防尘罩(1)为空心结构，防尘罩(1)上端的漏斗状进土口(11)上设有封盖(12)，封盖(12)通过合页(13)与漏斗状入土口(11)连接。3.按照权利要求1所述一种土壤样品研磨工具，其特征在于：所述两个初级研磨棒(2)为向对方旋转的圆柱体，其表面使用橡胶材质覆盖，防止在研磨过程中污染土壤。4.按照权利要求1所述一种土壤样品研磨工具，其特征在于：所述固定研磨盘(31)为锥形台，表面均匀分布有若干微凸起(36)。所述可调研磨壁(32)表面均匀分布有若干微凸起(36)。5.按照权利要求1所述一种土壤样品研磨工具，其特征在于：所述固定研磨盘(31)顶部设有土壤分散装置(35)，土壤分散装置(35)为空心圆锥体，表面采用抛光处理，便于土壤快速充分下滑。2CN107884245A说明书1/2页一种土壤样品研磨工具技术领域[0001]本发明属于地质技术领域，涉及一种土壤样品研磨工具。背景技术[0002]在土壤污染检测、土壤理化性质的分析、作物栽培用土以及肥料性质检测需要大量土壤样品，采集的土壤样品往往颗粒较大，无法直接进行分析化验，后期需要实验人员对其进行烘干、研磨、筛选等操作后才能置入测试仪器内检测，此环节费时费力，样品研磨不均匀且不充分，避免样品浪费，研磨过程中易对人体和环境造成污染。发明内容[0003]本发明的目的在于提供一种土壤样品研磨工具，解决了目前检测土壤实验样品需要实验人员对其进行烘干、研磨、筛选等操作后才能置入测试仪器内检测，此环节费时费力的问题。[0004]本发明所采用的技术方案是包括防尘罩、初级研磨棒、精细研磨仓、研磨支架、底座、电动机；所述防尘罩上端设有漏斗状进土口，进土口的上部开口位于防尘罩外部，进土口的底部开口位于防尘罩内的两个初级研磨棒之间，防尘罩可拆卸安装在研磨支架上；两个初级研磨棒下方设有精细研磨仓，底座安装在研磨支架下部，电机安装在底座上，初级研磨棒通过驱动轴与电机相连，精细研磨仓包括固定研磨盘和两个可调研磨壁，固定研磨盘安装在研磨支架上，通过驱动轴与电机相连，两个可调研磨壁分别位于固定研磨盘的两侧，能够通过螺盘调节与固定研磨盘之间距离的大小，以控制研磨土壤的研磨粒级；研磨支架底端两侧各留有一个出