

散斑干涉信息提取技术及其应用研究.pdf
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散斑干涉信息提取技术及其应用研究.pdf
天津大学博士学位论文散斑干涉信息提取技术及其应用研究姓名:张芳申请学位级别:博士专业:光学工程指导教师:刘文耀20090101中文摘要关键词:电子散斑干涉测量技术虺艵是一种全场非破坏性光学测量技术广泛应用于粗糙表面的变形测量和无损检测。在应用该技术时准确提取相位对物体的位移、应变、振动等测量具有重要意义。目前最常用的相位提取方法是条纹中心线法和相移法后
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散斑干涉信息提取技术及其应用研究的任务书.docx
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剪切散斑干涉技术的研究剪切散斑干涉技术(ShearingSpeckleInterferometry,SSI)是一种非接触式光学测试方法,可用于检测材料在应力作用下的形变、变形和应力分布等参数,被广泛应用于机械工程、航空航天工程、材料科学等领域的研究和应用中。在本文中,我们将从三个方面对剪切散斑干涉技术进行介绍和分析。一、剪切散斑干涉技术原理剪切散斑干涉技术是一种基于自发散斑的干涉测试方法。它利用自发散斑的随机性和散斑场的连续性,通过特殊的剪切光学组件引入相位差,使光的相位模式发生改变,形成干涉条纹。其主要