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集成电路测试插座产品说明.doc

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集成电路测试插座产品说明该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用间距为2.54mm8J-20J两侧跨度为7.62mm24J-64J两侧跨度为15.24mm:产品型号及规格；LJZ型集成电路测试插座LJZ型集成电路老化测试插座；LJZ-14、16、18、24、28、40带板双列集成电路老化测试插座；带板LJZ-14、16、18、24主要技术性能及使用条件环境温度；-55℃～+155℃相对湿度；40℃96%大气压力；30mmHg振动；f=10-50Hz冲击力；30kg工作电压；DC500V工作电流；1.5A接触电阻；≤0.03欧单脚插入力；≤0.2Kg弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）带板集成电路测试插座LJZ型集成电路插座结构示意图产品型号及安装尺寸序号型号名称L1L2L3L4间距引线电镀1LJZ-14集成电路老化测试插座211517272.54镍、金2LJZ-16集成电路老化测试插座23.51820292.54镍、金3LJZ-18集成电路老化测试插座262022322.54镍、金4LJZ-24集成电路老化测试插座342830-2.54镍、金5LJZ-28集成电路老化测试插座393335-2.54镍、金6LJZ-40集成电路老化测试插座544850-2.54镍、金