红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105333960A(43)申请公布日2016.02.17(21)申请号201510817449.1(22)申请日2015.11.23(71)申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所地址130000吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号(72)发明人朱小明王晓东颜昌翔(51)Int.Cl.G01J5/02(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图3页(54)发明名称红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法及装置(57)摘要本发明公开了一种红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法及装置，该方法包括：FPGA控制器接收原始图像数据并将原始图像数据缓存至第一SRAM；FPGA控制器从第二SRAM读取盲元位图及校正系数，从第一SRAM提取原始图像数据的像素点，对提取的像素点依次进行盲元判断及非均匀性校正，且每缓存三个像素点后进行四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据。本发明结合FPGA控制器优异的并行处理能力和SRAM的大存储空间及高速顺序读写功能，增强了非均匀性校正和盲元替换处理的实时性，且经缓存三个像素点后进行四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据，不需要缓存三行数据，可以实现大面阵图像处理。CN105333960ACN105333960A权利要求书1/2页1.一种红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，基于现场可编程门阵列FPGA控制器（100）和两个静态随机存取存储器SRAM，所述方法包括：FPGA控制器（100）接收原始图像数据并将所述原始图像数据缓存至第一SRAM（200）；FPGA控制器（100）从第二SRAM（300）读取盲元位图及校正系数，从所述第一SRAM（200）提取原始图像数据的像素点，对提取的像素点依次进行盲元判断及非均匀性校正，且每缓存三个像素点后进行四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据。2.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，所述对提取的像素点依次进行盲元判断及非均匀性校正，且每缓存三个像素点后进行四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据包括：判断当前像素点是否为盲元，若是则提取下一行该列像素点并判断其是否为盲元，直至提取的当前像素点不为盲元，作为四点盲元替换的下方像素值；根据像素值大小选定校正系数所在区间，读取校正系数并逐个对像素点进行非均匀性校正；缓存四点盲元替换的上方像素值、左方像素值和右方像素值；采用四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据。3.根据权利要求2所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，所述非均匀性校正的校正公式为：其中x(i,j)为第i行第j列像素值，y(i,j)为非均匀校正后的像素值，km和bm分别为第m区间乘校正系数和加校正系数。4.根据权利要求2所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，所述四点盲元替换的替换公式为：其中i，j表示盲元像素所处的行号和列号。5.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，所述FPGA控制器（100）内缓存所述第一SRAM（200）的读写地址，以批量提取所述第一SRAM（200）内的原始图像数据。6.根据权利要求1所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换方法，其特征在于，所述FPGA控制器（100）内经处理后得到的非均匀性校正和盲元替换后的数据缓存后经数传接口（500）传递至下一终端。7.一种红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换装置，其特征在于，包括：现场可编程门阵列FPGA控制器（100）、第一SRAM（200）、第二SRAM（300）；所述第二SRAM（300）存储盲元位图及校正系数且与所述FPGA控制器（100）连接供所述FPGA控制器（100）读取；所述FPGA控制器（100）连接有用于导入原始图像数据的图像输入接口（400）；所述2CN105333960A权利要求书2/2页FPGA控制器（100）包括：图像缓存模块（110），连接所述图像输入接口（400）及所述第一SRAM（200），用于将接收的原始图像数据缓存所述第一SRAM（200）；图像处理模块（120），用于从第二SRAM（300）读取盲元位图及校正系数，从所述第一SRAM（200）提取原始图像数据的像素点，对提取的像素点依次进行盲元判断及非均匀性校正，且每缓存三个像素点后进行四点盲元替换得到经非均匀性校正和盲元替换后的数据。8.根据权利要求7所述的红外焦平面探测器非均匀性校正和盲元替换装置，其特征在于，所述FPGA控制器（100）还包括：地址缓存模块（130），用于缓存所述第一SRAM（200）的读写