圆形壳体的壁厚测量装置与测量方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105737746A(43)申请公布日2016.07.06(21)申请号201610258264.6(22)申请日2016.04.22(71)申请人南京晨光集团有限责任公司地址210000江苏省南京市秦淮区应天大街388号(72)发明人缪建国唐松何光武张春富何光文(74)专利代理机构南京理工大学专利中心32203代理人王培松朱显国(51)Int.Cl.G01B11/06(2006.01)G01B17/02(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图2页(54)发明名称圆形壳体的壁厚测量装置与测量方法(57)摘要本发明提供一种圆形壳体的壁厚测量装置，包括基座；位于基座上的用于承载被测壳体的旋转台，该旋转台被设置成可绕其中轴线旋转；位于基座上的立柱，该立柱被设置成在一第一安装位置可转动地连接到基座；角度调整机构，被设置用于调节立柱相对于基座的角度，该角度调整机构的一端连接在立柱上，另一端在一第二安装位置连接到基座；立柱上还设置有可沿着立柱纵长方向移动的第一测量臂和第二测量臂，第一测量臂与第二测量臂等长并且设置两个测距模块，采用间接测量法测量壁厚。本发明的壁厚测量装置可以使圆形壳体的壁厚检测自动化，具有更高的测量准确度和测量效率，且可以有效减少测量盲区。CN105737746ACN105737746A权利要求书1/2页1.一种圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，该壁厚测量装置包括：基座；位于基座上的用于承载被测壳体的旋转台，该旋转台被设置成可绕其中轴线旋转；位于基座上的立柱，该立柱被设置成在一第一安装位置可转动地连接到所述基座；角度调整机构，被设置用于调节立柱相对于基座的角度，该角度调整机构的一端连接在所述立柱上，另一端在一第二安装位置连接到所述基座；其中，所述立柱上还设置有可沿立柱纵长方向移动的第一测量臂和第二测量臂，第一测量臂与第二测量臂等长，并且在第一测量臂临近基座的一端设置第一测距模块，在第二测量臂临近基座的一端设置第二测距模块。2.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述立柱上设置有沿着纵长方向的竖直导轨，第一测量臂与第二测量臂可沿该竖直导轨在竖直方向移动。3.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述第一测量臂与第二测量臂之间通过梁连接固定。4.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述第一测距模块、第二测距模块均采用激光测距模块、超声测距模块中的一种。5.根据权利要求1-4中任意一项所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述立柱被设置成通过铰链连接到所述基座上，该铰链位于所述第一安装位置。6.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述角度调整机构包括铰接到立柱的第一螺杆、铰接到基座的第二螺杆、套装在第一螺杆、第二螺杆上的螺套以及操作手柄，该操作手柄被设置成供操作驱动第一螺杆和/或第二螺杆的运动以调整立柱的倾斜角度。7.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述角度调整机构包括铰接到立柱的第一连杆、铰接到基座的第二连杆、驱动第一连杆和/或第一连杆的电机以及用于控制电机运行的控制开关，所述电机被设置成受控制开关的操作控制驱动第一连杆和/或第一连杆运动以调整立柱的倾斜角度。8.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述回转台包括圆盘形本体以及在圆盘形本体径向上设置的多个支撑架，所述支撑架的外端延伸超出圆盘形本体的外周边缘。9.根据权利要求1所述的圆形壳体的壁厚测量装置，其特征在于，所述基座上还设置有水平导轨，所述回转台被设置成可在该水平导轨内沿基座纵长方向水平移动。10.一种基于前述权利要求1-9中任意一项所述壁厚测量装置的圆形壳体壁厚测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1、在被测壳体放置在回转台上之后，根据被测壳体的类型控制角度调整机构来调整立柱相对基座的角度；步骤2、使所述第一测量臂和第二测量臂中的一者伸入到被测壳体的内部，另一者位于被测壳体的外部相对的位置；步骤3、控制所述回转台旋转，所述第一测距模块与第二测距模块分别测量其到被测壳体表面的距离，并将测量数据传输至一处理终端；步骤4、处理终端基于第一测距模块与第二测距模块的距离以及第一测距模块与第二2CN105737746A权利要求书2/2页测距模块传输的距离数据进行做差处理，得到被测壳体的一横截面的壁厚。11.根据权利要求10所述的圆形壳体壁厚测量方法，其特征在于，前述方法更加包含以下步骤：控制所述第一测量臂和第二测量臂沿着立柱的竖直方向移动使得第一测距模块与第二测距模块向下移动到另一横截面，利用前述步骤3和步骤4的方法得到被测壳体的另一横截面的壁厚。12.根据权利要