光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105758621A(43)申请公布日2016.07.13(21)申请号201610152611.7(22)申请日2016.03.17(71)申请人北京中科光讯科技有限公司地址100067北京市丰台区南四环西路188号一区18号楼5层(72)发明人毛志松白金刚薛鹏朱惠君(74)专利代理机构北京市广友专利事务所有限责任公司11237代理人张仲波(51)Int.Cl.G01M11/00(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图1页(54)发明名称光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法(57)摘要本发明公开了一种光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法，该系统包括至少一个高功率稳定性光源、两个光开关、耦合器、光电探测器、光缆、中央控制器。利用两组光开关，通过控制两个光开关的脉冲宽度以及延时，可以实现变分辨率测量以及灵活控制测量区域的功能，同时消除盲区以及鬼影，本发明提供的系统结构简单，成本低廉，使用效果好。CN105758621ACN105758621A权利要求书1/2页1.一种光缆检测精确定位和盲区消去系统，其特征在于，所述系统包括：至少一个高功率稳定性光源，至少两个光开关：第一光开关、第二光开关、耦合器，光电探测器，光缆，中央控制器；所述高功率稳定性光源与第一光开关相连；由光源发出的、经第一光开关调制的光进入耦合器中，再经过耦合器连接到光缆中；所述光电探测器与第二光开关相连，并通过第二光开关连接到耦合器中；所述耦合器与光缆相连；所述中央控制器与所述第一光开关、第二光开关相连。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：所述高功率稳定性光源包含宽带光源、分束器和探测器；所述分束器分别与宽带光源、探测器相连，并与第一光开关相连；所述探测器将探测信号反馈给宽带光源。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：常规状态下，所述第二光开关处于常开状态；当进行精细测量时，所述中央控制器对所述第一光开关、第二光开关进行同步控制，使得所述第一光开关、第二光开关的脉宽相同。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：该系统利用带功率检测的激光二极管作为所述光源，所述激光二极管分出一部分光作为检测光，直接从其某个引脚可以读出此检测光的数值，然后进行功率检测反馈控制。5.一种光缆检测精确定位和盲区消去方法，该方法适用于光缆检测精确定位和盲区消去系统，所述系统包括至少一个高功率稳定性光源，至少两个光开关：第一光开关、第二光开关，耦合器，光电探测器，中央控制器，其特征在于：将所述高功率稳定性光源与第一光开关相连，通过调整第一光开关来实现对光源的调制；当进行常规监测时，所述第二光开关处于常开状态，中央控制器通过对第一光开关的控制实现所述高功率稳定性光源的脉冲输出；当进行精细测量时，中央控制器对第一光开关和第二光开关同步控制，使得两者脉宽相同；同时调整第一光开关和第二光开关的延时，实现步进采集。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：调整第一光开关和第二光开关的延时，使得检测搜集到的光信号强度曲线中，将形成鬼影的时间段空缺出来。7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：控制两个光开关的延时，避免光缆前端和后端强的菲涅尔反射光进入系统造成探测器饱和而形成盲区，同时可以通过控制两个光开关的延时来改变探测光缆的分辨率。8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：通过延时及步进采集，逐点检测光缆的衰耗和中断位置，实现对光缆衰耗和中断位置的精细检测。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于：所述精细检测中的延时周期Δt确定方法如下：2CN105758621A权利要求书2/2页其中，每隔一个延时周期Δt测试一次，相当于在光缆中分布了n个测试点，L为测试点之间的距离，n(λs,T)为光缆的折射率，C0为光在真空中传播的速率，Zi＝iL为第i个测试点的位置。10.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：通过控制延时进行变分辨率的测量，从而获得整体检测图像，并对感兴趣区域进行精细测量。3CN105758621A说明书1/7页光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法技术领域[0001]本发明属于光纤类检测技术领域，涉及光缆检测方法及系统，尤其涉及一种光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法。背景技术[0002]近年来，光纤、光缆的使用逐渐普及开来，在光缆检测方面的技术也随之不断改进。现有普通OTDR采用单次发光连续采集的方式，采集到的光能量和光源调制的脉冲宽度有关，脉宽越大，单脉冲能量越大，可检测的光缆越长，但是会造成测试的精度下降。同时OTDR测量技术存在“盲区”，盲区又称死区，是指受菲涅耳反射的影响，在一定的距离范围内OTDR曲线无法反映光纤线路状态的部分。此现象的出现主要是由于光纤链路上菲涅耳反射强信号使得光电探