原子吸收测量方法以及测量装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106353262A(43)申请公布日2017.01.25(21)申请号201510417190.1(22)申请日2015.07.15(71)申请人北京普析通用仪器有限责任公司地址101200北京市平谷区平三路3号(72)发明人田禾宋雅东崔维兵王志海蒋汉明(74)专利代理机构北京律智知识产权代理有限公司11438代理人阚梓瑄路兆强(51)Int.Cl.G01N21/31(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图2页(54)发明名称原子吸收测量方法以及测量装置(57)摘要本发明提出一种原子吸收测量方法以及测量装置，原子化器产生的紫外线波长大于300nm，检测器为日盲管，原子吸收测量装置包括第一光学件组以及第二光学件组；第一光学件组设于光源与原子化器之间，第一光学件组能够使光源发出的光线聚焦，再射入原子化器；第二光学件组设于原子化器与检测器之间，第二光学件组能够使穿过原子化器的光线聚焦，再射入检测器。本发明去除了现有技术中紫外区域的杂光，省去了原子吸收分光光度计的分光系统，还省去了现有原子吸收测量装置在测量元素之前需进行的寻峰操作，节省了测定时间。本发明更加容易实现多元素顺序或同时测量。另外，本发明提出的原子吸收测量装置结构简单，可实现小型化。CN106353262ACN106353262A权利要求书1/2页1.一种原子吸收测量装置，包括光源(1)、原子化器(5)以及检测器(10)，所述光源(1)能够发出具有待测样品特征谱线的光线，其特征在于，所述原子化器(5)产生的紫外线波长大于300nm，所述检测器(10)为日盲管，所述原子吸收测量装置还包括：第一光学件组(3)，设于所述光源(1)与所述原子化器(5)之间，所述第一光学件组(3)能够使所述光源(1)发出的光线聚焦，再射入所述原子化器(5)；以及第二光学件组(7)，设于所述原子化器(5)与所述检测器(10)之间，所述第二光学件组(7)能够使穿过所述原子化器(5)的光线聚焦，再射入所述检测器(10)。2.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述原子吸收测量装置还包括：狭缝(9)，设于所述第二光学件组(7)与所述检测器(10)之间。3.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述光源(1)为空心阴极灯或者无极放电灯。4.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述原子化器(5)为石墨炉原子化器(5)。5.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述第一光学件组(3)包括：第一平面镜(11)，能够反射所述光源(1)发出的光线；以及第一凹面镜(12)，能够将所述第一平面镜(11)反射的光线聚焦并反射至所述原子化器(5)。6.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述第一光学件组(3)包括：第一透镜(15)，能够透射所述光源(1)发出的光线至所述原子化器(5)。7.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述第二光学件组(7)包括：第二平面镜(13)，能够反射穿过所述原子化器(5)的光线；以及第二凹面镜(14)，能够将所述第二平面镜(13)反射的光线聚焦并反射至所述检测器(10)。8.根据权利要求1所述的原子吸收测量装置，其特征在于，所述第二光学件组(7)包括：第二透镜(16)，能够透射穿过所述原子化器(5)的光线至所述检测器(10)。9.一种原子吸收测量方法，用于对待测样品进行定量分析，其特征在于，包括以下步骤：设置光源，利用所述光源发出具有所述待测样品特征谱线的光线；设置原子化器，利用所述原子化器将所述待测样品原子化，并将所述光线穿过所述原子化器；设置检测器，利用所述检测器测量穿过所述原子化器的光线；设置第一光学件组，在所述光源与所述原子化器之间，设置由至少一个光学元件组成的第一光学件组，以使所述光源发出的光线聚焦后再射入所述原子化器；以及设置第二光学件组，在所述原子化器与所述检测器之间，设置由至少一个光学元件组2CN106353262A权利要求书2/2页成的第二光学件组，以使穿过所述原子化器的光线聚焦后再射入所述检测器。3CN106353262A说明书1/5页原子吸收测量方法以及测量装置技术领域[0001]本发明涉及原子吸收测量技术领域，尤其涉及一种原子吸收测量方法以及测量装置。背景技术[0002]原子吸收光谱分析是二十世纪五十年代发展起来的光谱技术，原子吸收光谱分析方法(AAS)是基于基态或激发态原子能够吸收特定波长光辐射的原理，再通过确定该特定波长的被吸收强度进行物质的定量分析，原子吸收分光光度计是基于这种分析方法的测定痕量元素的仪器。原子吸收分光光度计主要包括光源系统、原子化系统、分光系统、光电检测器及数据处理系统。光源系统发出待测