电磁超声SV波与表面波检测系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111024827A(43)申请公布日2020.04.17(21)申请号201911266547.5(22)申请日2019.12.11(71)申请人湖北工业大学地址430070湖北省武汉市洪山区南李路28号(72)发明人涂君蔡卓越宋小春张旭徐煦源文辉(74)专利代理机构武汉维创品智专利代理事务所(特殊普通合伙)42239代理人丁龙(51)Int.Cl.G01N29/42(2006.01)G01N29/34(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图4页(54)发明名称电磁超声SV波与表面波检测系统(57)摘要本发明实施例提供了一种电磁超声SV波与表面波检测系统，通过脉冲发生器激励出SV波信号和表面波信号，分别用于检测被测件的内部缺陷和表面及近表面缺陷。本发明实施例中，利用双层线圈分别对被测件返回的检测信号进行接收，并将第一层线圈连接第一滤波器，将第二层线圈连接第二滤波器，可以将高频的SV波信号和低频的表面波信号分离开，从而解决超声波探伤存在表面缺陷信号易淹没在界面波或底波中，而导致存在探伤盲区的问题，可以对被测件的所有部位同时进行探伤。CN111024827ACN111024827A权利要求书1/2页1.一种电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，包括：脉冲发生器、换能器、第一滤波器和第二滤波器；所述换能器包括永磁铁和双层线圈，所述双层线圈设置在所述永磁铁的下表面；所述双层线圈包括第一层线圈和第二层线圈，所述脉冲发生器与所述第一层线圈连接，所述脉冲发生器用于向所述第一层线圈提供不同频段的脉冲，以激励SV波信号和表面波信号；所述第一层线圈与所述第一滤波器连接，所述第二层线圈与所述第二滤波器连接，所述第一层线圈和所述第二层线圈均用于接收被测件返回的检测信号，所述第一滤波器用于提取所述检测信号中的表面波信号，所述第二滤波器用于提取所述检测信号中的SV波信号。2.根据权利要求1所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述永磁铁的磁场方向与所述双层线圈所处的平面垂直。3.根据权利要求1所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述双层线圈具体为双层曲折线圈。4.根据权利要求1所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述脉冲发生器具体用于：向所述第一层线圈提供第一频段的脉冲，以激励SV波信号；向所述第一层线圈提供第二频段的脉冲，以激励表面波信号；所述第一频段的频率均高于所述第二频段的频率。5.根据权利要求4所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述第一频段的频率基于SV波信号在所述被测件中的传播速度、所述第一层线圈的导线间距以及SV波信号的偏转角度确定。6.根据权利要求5所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述第一频段的频率具体通过如下公式确定：其中，f1为所述第一频段的频率，cT为SV波信号在所述被测件中的传播速度，l为所述第一层线圈的导线间距，θ为SV波信号的偏转角度。7.根据权利要求4所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述第二频段的频率基于表面波信号在所述被测件中的传播速度以及所述第一层线圈的导线间距确定。8.根据权利要求7所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，所述第二频段的频率具体通过如下公式确定：其中，f2为所述第二频段的频率，cR为表面波信号在所述被测件中的传播速度，l为所述第一层线圈的导线间距。9.根据权利要求1所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，还包括：第一示波器和第二示波器；所述第一滤波器和所述第二滤波器均与所述脉冲发生器连接；2CN111024827A权利要求书2/2页所述第一示波器和所述第二示波器分别与所述脉冲发生器连接；所述第一示波器用于显示所述检测信号中的表面波信号，所述第二示波器用于显示所述检测信号中的SV波信号。10.根据权利要求1-9中任一项所述的电磁超声SV波与表面波检测系统，其特征在于，还包括：第一前置放大器和第二前置放大器；所述第一前置放大器连接在所述第一层线圈与所述第一滤波器之间，所述第二前置放大器连接在所述第二层线圈与所述第二滤波器之间。3CN111024827A说明书1/6页电磁超声SV波与表面波检测系统技术领域[0001]本发明涉及电磁超声技术领域，更具体地，涉及电磁超声SV波与表面波检测系统。背景技术[0002]目前，电磁超声检测技术与传统的压电超声技术相比，不需要耦合剂，具有非接触、检测速度快、对试件表面要求低等优点，因此被广泛应用于被测件的缺陷检测。[0003]由于表面波信号强度随着被测件表面深度的增加而衰减，在两倍深度以外的表面波信号基本消失。[0004]另外采用超声波探伤时表面或近表面缺陷信号易淹没在界面波