一种低频B超成像设备性能检测装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111436968A(43)申请公布日2020.07.24(21)申请号202010337952.8(22)申请日2020.04.26(71)申请人中国科学院声学研究所地址100190北京市海淀区北四环西路21号(72)发明人朱承纲牛凤岐张迪程洋(74)专利代理机构北京方安思达知识产权代理有限公司11472代理人陈琳琳李彪(51)Int.Cl.A61B8/00(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图8页(54)发明名称一种低频B超成像设备性能检测装置(57)摘要本发明公开了一种低频B超成像设备性能检测装置，包括体模外壳、声窗(11)、多条靶线(4)、多个模拟病灶(5)和背景仿组织材料(9)；体模外壳为长方体结构，由前面板(2)、后面板(3)、两块侧面板(13)、底面板(15)和水槽框(12)固定连接而成，体模外壳与水槽框(12)中粘贴的声窗(11)一起形成密闭空间，内部灌充背景仿组织材料(9)；底面板(15)上开有多个灌充背景仿组织材料(9)的入口，多条靶线(4)和多个模拟病灶(5)嵌埋于背景仿组织材料(9)中，每一条靶线均从前面板(2)垂直贯穿到后面板(3)。本发明的装置可以对低频B超设备的盲区、成像分辨力、探测深度、几何位置精度以及病灶发现能力进行检测和评价。CN111436968ACN111436968A权利要求书1/2页1.一种低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述装置包括体模外壳、声窗(11)、多条靶线(4)、多个模拟病灶(5)和背景仿组织材料(9)；所述体模外壳为长方体结构，由前面板(2)、后面板(3)、两块侧面板(13)、底面板(15)和水槽框(12)固定连接而成，所述体模外壳与水槽框(12)中粘贴的声窗(11)一起形成密闭空间，内部灌充背景仿组织材料(9)；所述底面板(15)上开有多个灌充背景仿组织材料(9)的入口，所述多条靶线(4)和多个模拟病灶(5)嵌埋于背景仿组织材料(9)中，每一条靶线均从前面板(2)垂直贯穿到后面板(3)。2.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述装置还包括：底座(10)，所述体模外壳通过底面板(15)与底座(10)进行固定连接。3.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述体模外壳和底座(10)的材质均为硬质结构塑料。4.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述声窗(11)为50μm-100μm厚的聚酯薄膜。5.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述底面板(15)上的入口为设置在其边缘的圆孔(7)，由封堵橡皮(8)进行封堵，所述封堵橡皮(8)为真空橡皮。6.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述背景仿组织材料(9)为水性高分子凝胶基复合材料，所述背景仿组织材料(9)通过保养液维护保养，所述保养液经封堵橡皮(8)注入。7.根据权利要求1所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述前面板(2)和后面板(3)水平方向对应的位置开有多个靶线开孔，用于定位靶线(4)；所述靶线(4)的两端分别固定在前面板(2)和后面板(3)的外侧面，每条靶线具有相同的拉力以使得尼龙靶线均匀绷紧；靶线材料为直径0.1mm-0.5mm的尼龙线。8.根据权利要求7所述的低频B超成像设备性能检测装置，其特征在于，所述多条靶线(4)包括：纵向靶群(440)、横向靶群(450)、盲区靶群(401)、侧向分辨力靶群和轴向分辨力靶群；所述纵向靶群(440)包括一组等间隔纵向排列的靶线，相邻两条靶线的纵向距离均为10mm；所述横向靶群(450)包括一组等间隔横向排列的靶线，设置在与声窗(11)的平行的水平面上，相邻两条靶线的横向距离均为10mm；所述盲区靶群(401)包括在水平方向依次错开的7根靶线，各靶线与声窗(11)的距离分别为2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm；所述侧向分辨力靶群为水平分布的数组靶线，按照与声窗(11)的距离由近及远包括第一侧向分辨力靶群(411)、第二侧向分辨力靶群(412)、第三侧向分辨力靶群(413)、第四侧向分辨力靶群(414)和第五侧向分辨力靶群(415)，各靶群分别位于距离声窗(11)不同深度的水平面上；两相邻靶线水平距离依次为5mm、4mm、3mm、2mm、1mm；轴向分辨力靶群为靶群中的各靶线依次沿深度方向分布的靶群，按照与声窗(11)的距离由近及远包括第一轴向分辨力靶群(421)、第二轴向分辨力靶群(422)、第三轴向分辨力靶群(423)、第四轴向分辨力靶群(424)和第五轴向分辨力靶群(425)，各靶群中与声窗(11)2CN1114369