预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/8
2/8
3/8
4/8
5/8
6/8
7/8
8/8

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114113341A(43)申请公布日2022.03.01(21)申请号202010892178.7(22)申请日2020.08.31(71)申请人郑州国电机械设计研究所有限公司地址450046河南省郑州市郑东新区龙子湖街道湖心环路与湖心一路交叉口向西50米路北申请人华电郑州机械设计研究院有限公司(72)发明人裴延东杨兴斌马昌全陈霄陈涛朱丁丁黎长春张佳臣(74)专利代理机构郑州中原专利事务所有限公司41109代理人霍彦伟(51)Int.Cl.G01N29/30(2006.01)G01N29/07(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图2页(54)发明名称用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块(57)摘要用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,包括矩形的对比试块,所述对比试块内部通过电火花数控线切割机床加工有与扫查方向一致的人工缺陷,所述人工缺陷与对比试块上表面具有夹角。本发明的对比试块在采用衍射时差法超声检测技术进行检测时,可以用所述对比试块验证当前检测参数下的扫查面盲区,根据扫查面盲区值大小确定补充检查方式,做到被检工件100%检测。CN114113341ACN114113341A权利要求书1/1页1.用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:包括矩形的对比试块,所述对比试块内部通过电火花数控线切割机床加工有与扫查方向一致的人工缺陷,所述人工缺陷与对比试块上表面具有夹角。2.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述夹角的范围为2°~8°。3.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述人工缺陷沿径向的截面形状为菱形或者矩形或者圆形。4.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述人工缺陷距离对比试块上表面的最小高度为0mm。5.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述人工缺陷距离对比试块上表面的最大高度不小于15mm。6.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:在扫查方向上,所述人工缺陷的起始端距离对比试块起始端距离不小于50mm。7.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述对比试块上表面从人工缺陷的起始位置沿扫查方向标有长度标识。8.根据权利要求1所述的用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,其特征在于:所述人工缺陷高度为2mm。2CN114113341A说明书1/4页用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块技术领域[0001]本发明属于检测领域,尤其涉及一种用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块。背景技术[0002]目前衍射时差法超声检测技术在工业检测中得到广泛的应用,是一种先进的检测技术。该技术也存在局限性—扫查面盲区较大。即使对TOFD技术进行优化设置,扫查面盲区也是不可避免的。只有在应用TOFD技术前准确掌握盲区的大小,才能保证受检产品得到有效检测,避免漏检。检测前除了对扫查面盲区计算外,还必须采用相应的对比试块验证。[0003]NB/T47013.10-2015标准中扫查面盲区对比试块的反射体是不同深度的横孔。目前尚无有效的的方法来的测定扫查面盲区准确数值,大多是通过对比法来得到一个扫查面盲区范围。[0004]NB/T47013.10—2015等标准要求的扫查面盲区高度对比试块在使用时,除规定高度的盲区能够准确对比外,其余深度的扫查面盲区只能粗略判定,不能对具体技术检测条件下扫查面对应的盲区做精准判断。该试块的盲孔必须是一次性加工成型,因为每一次钻孔后会在孔壁上留下细微的台槽。需要加工出符合要求的高精度盲孔试块,加工成本较高,且需要多张图谱才能验证当前参数下的盲区范围。发明内容[0005]本发明提供一种用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,以解决现有技术存在的问题。[0006]为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:用于衍射时差法超声检测确定扫查面盲区的对比试块,包括矩形的对比试块,所述对比试块内部通过电火花数控线切割机床加工有与扫查方向一致的人工缺陷,所述人工缺陷与对比试块上表面具有夹角。[0007]所述夹角的范围为2°~8°。[0008]所述人工缺陷沿径向的截面形状为菱形或者矩形或者圆形。[0009]所述人工缺陷距离对比试块上表面的最小高度为0mm。[0010]所述人工缺陷距离对比试块上表面的最大高度不小于15mm。[0011]在扫查方向上,所述人工缺陷的起始端距离对比试块起始端距离不小于50mm。[0012]