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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CN104597336A(43)申请公布日(43)申请公布日2015.05.06(21)申请号201310532740.5(22)申请日2013.10.30(71)申请人中国科学院上海微系统与信息技术研究所地址200050上海市长宁区长宁路865号(72)发明人蒋坤伍俊常凯荣亮亮张树林孔祥燕谢晓明(74)专利代理机构上海光华专利事务所31219代理人余明伟(51)Int.Cl.G01R31/00(2006.01)H05K9/00(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页(54)发明名称一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置(57)摘要本发明提供一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置,测试装置包括:用于产生变频信号的信号发生器;与所述信号发生器相连,用于对所述信号发生器输出的变频信号进行放大的第一射频放大器;与所述第一射频放大器相连并套设在杜瓦瓶外侧,用于发射所述第一射频放大器输出的变频信号的电磁发射环;设置在杜瓦瓶内部用于接收所述电磁发射环所发射的变频信号以产生磁信号的电磁接收天线;与所述电磁接收天线相连,用于对所述电磁接收天线接收的磁信号进行放大的第二射频放大器;与所述第二射频放大器相连,用于显示放大之后的磁信号以确定所述杜瓦瓶电磁屏蔽性的输出显示设备。本发明能简单便捷地实现对无磁杜瓦瓶经电磁屏蔽处理后的屏蔽性能测试。CN104597336ACN104597336A权利要求书1/2页1.一种无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试方法,用于在杜瓦瓶倒置时的电磁屏蔽性测试,其特征在于,所述测试方法包括:提供一信号发生器,并在所述杜瓦瓶外侧且环绕所述杜瓦瓶设置一连接所述信号发生器的电磁发射环,及在所述杜瓦瓶内部设置一电磁接收天线;令所述信号发生器发射变频信号,并对所述变频信号进行放大处理,以使经放大处理后的变频信号通过所述电磁发射环环绕于所述杜瓦瓶的外侧;通过所述电磁接收天线接收环绕于所述杜瓦瓶的外侧的变频信号以产生磁信号;采集所述杜瓦瓶内部的电磁接收天线接收的磁信号,并对所述磁信号进行放大处理;显示经过放大处理的磁信号以确定所述杜瓦瓶电磁屏蔽性。2.根据权利要求1所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试方法,其特征在于,所述电磁发射环在杜瓦瓶外侧的不同高度环绕杜瓦瓶。3.根据权利要求1或2所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试方法,其特征在于,所述电磁发射环高度位置与所述电磁接收天线的高度位置相等。4.一种无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:用于产生变频信号的信号发生器;与所述信号发生器相连,用于对所述信号发生器输出的变频信号进行放大的第一射频放大器;与所述第一射频放大器相连并套设在杜瓦瓶外侧,用于发射所述第一射频放大器输出的变频信号的电磁发射环;设置在杜瓦瓶内部用于接收所述电磁发射环所发射的变频信号以产生磁信号的电磁接收天线;与所述电磁接收天线相连,用于对所述电磁接收天线接收的磁信号进行放大的第二射频放大器;与所述第二射频放大器相连,用于显示放大之后的磁信号以确定所述杜瓦瓶电磁屏蔽性的输出显示设备。5.根据权利要求4所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述电磁发射环为环形铜片。6.根据权利要求4或5所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,还包括与所述电磁发射环相连支撑所述电磁发射环以使所述电磁发射环位于一定高度的第一支撑柱。7.根据权利要求6所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述第一支撑柱上设有若干刻度线;所述电磁发射环与所述第一支撑柱为可拆卸的固定连接以根据所述第一支撑柱上的刻度线使所述电磁发射环位于预设的高度位置。8.根据权利要求4所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,还包括与所述电磁接收天线相连用于支撑所述电磁接收天线以使所述电磁接收天线位于一定高度的第二支撑柱。9.根据权利要求8所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述第二支撑柱为高度可调节的支撑柱。10.根据权利要求4所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述电磁接2CN104597336A权利要求书2/2页收天线为磁线圈。11.根据权利要求4所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述电磁发射环和电磁接收天线位于同一高度。12.根据权利要求4所述的无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试装置,其特征在于,所述输出显示设备为示波器。3CN104597336A说明书1/6页一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置技术领域[0001]本发明涉及杜瓦瓶领域,特别是涉及一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置。背景技术[0002]杜瓦瓶(Dewars)是储藏液态气体,低温研究和晶体元件保护的一种较理想容器和工具。古罗马时期人们就已经知道,双