增量式编码器断线检测电路.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108459234A(43)申请公布日2018.08.28(21)申请号201810421590.3(22)申请日2018.05.04(71)申请人深圳易能电气技术股份有限公司地址518000广东省深圳市南山区桃源街道平山民企科技园4栋5、6楼(72)发明人熊伟(74)专利代理机构深圳市精英专利事务所44242代理人葛勤(51)Int.Cl.G01R31/02(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图1页(54)发明名称增量式编码器断线检测电路(57)摘要本发明提供了一种增量式编码器断线检测电路，包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。本发明的有益效果在于：提供了一种采用由检测电阻、光耦器件和二极管组成的检测电路，检测电阻的电压变化反应到光耦器件的输入侧，光耦器件的输出侧输出对应的信号，从而控制通向CPU的电平发生变化，从而使CPU判断出当前编码器状态，杜绝了误判的可能，大大增加了检测电路的可靠性。CN108459234ACN108459234A权利要求书1/2页1.一种增量式编码器断线检测电路，其特征在于：包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。2.如权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相差分端检测电阻的一端与编码器的A相差分信号输出正端连接，所述A相差分端检测电阻的另一端与编码器的A相差分信号输出负端连接；所述B相差分端检测电阻的一端与编码器的B相差分信号输出正端连接，所述B相差分端检测电阻的另一端与编码器的B相差分信号输出负端连接；所述Z相差分端检测电阻的一端与编码器的Z相差分信号输出正端连接，所述Z相差分端检测电阻的另一端与编码器的Z相差分信号输出负端连接。3.如权利要求2所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相光耦检测单元组包括A相第一光耦和A相第二光耦，所述A相第一光耦的A相第一光耦输入端通过A相第一输入电阻与所述A相差分端检测电阻的一端连接，所述A相第一光耦的A相第一光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输入端通过A相第二输入电阻与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的一端连接；所述B相光耦检测单元组包括B相第一光耦和B相第二光耦，所述B相第一光耦的B相第一光耦输入端通过B相第一输入电阻与所述B相差分端检测电阻的一端连接，所述B相第一光耦的B相第一光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输入端通过B相第二输入电阻与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的一端连接；所述Z相光耦检测单元组包括Z相第一光耦和Z相第二光耦，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输入端通过Z相第一输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的一端连接，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输入端通过Z相第二输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的一端连接。4.如权利要求3所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第一光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第二光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相二极管的负极通过A相下拉电阻与地连接；所述B相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第一光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第二光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相二极管的负极通过B相下拉电阻与地连接；所述Z相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第一光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相二极管的负极通过Z相下拉电阻与地连接。5.如权利要求4所述的增量式编码器断线