热分析仪.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107014859A(43)申请公布日2017.08.04(21)申请号201611050822.6G01N25/18(2006.01)(22)申请日2010.02.03(30)优先权数据09151986.82009.02.03EP(62)分案原申请数据201010113559.72010.02.03(71)申请人梅特勒-托莱多有限公司地址瑞士格赖芬塞(72)发明人E·范德克尔克霍夫P·P·W·范格兰斯文(74)专利代理机构永新专利商标代理有限公司72002代理人陈松涛夏青(51)Int.Cl.G01N25/20(2006.01)权利要求书1页说明书12页附图5页(54)发明名称热分析仪(57)摘要一种热分析仪，特别是差示扫描量热仪，以及控制所述热分析仪的方法。所述热分析仪包括用于容纳样本(206)的样本位置(201，401)，参考位置(202，402)，与所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)相关联的加热模块，用于设置温度标称值对时间的预定温度程序的模块，第一传感器(407)，用于测量所述样本位置(201，401)处的样本温度(TS)，并且还包括控制器，其控制所述加热模块的加热功率，其特征在于，对所述加热模块(203，403，204，404)的加热功率进行控制，以使所所测量的样本温度(TS)实质上跟随所述预定的温度程序。CN107014859ACN107014859A权利要求书1/1页1.一种热分析仪，特别是差示扫描量热仪，包括用于容纳样本(206)的样本位置(201，401)，参考位置(202，402)，与所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)相关联的加热模块，用于设置温度标称值对时间的预定温度程序的模块，用于测量所述样本位置(201，401)处的样本温度(TS)的第一传感器(407)，用于测量所述参考位置(202，402)处的参考温度(TR)的第二传感器(408)，并且还包括控制器(423)，所述控制器(423)控制所述加热模块的加热功率，其特征在于，通过样本温度(Ts)对所述加热模块的加热功率进行控制，以使所测量的样本温度(TS)实质上跟随所述预定温度程序，并且所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)之间产生的温度差代表测量信号。2.根据权利要求1所述的热分析仪，其中，每个传感器(407，408)包括下述各项中的至少一项：具有至少一个热电偶的热电堆布置、电阻温度传感器、或者基于半导体的温度传感器。3.根据权利要求1或2所述的热分析仪，其中，参考物质与所述参考位置(202，402)相关联。4.根据权利要求1-3中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述加热模块包括与所述样本位置和所述参考位置相关联的共同的加热器。5.根据权利要求1-4中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述加热模块包括与所述参考位置(202，402)相关联的参考加热器(204，404)、以及与所述样本位置(201，401)相关联的样本加热器(203，403)。6.根据权利要求1-5中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)置于共同的保持器上或者单独的保持器上。7.根据权利要求1-6中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述样本位置(201，401)和参考位置(202，402)表现出内在的对称性。8.根据权利要求1-7中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述热分析仪是在等环境条件下工作的热通量量热仪。9.根据权利要求1-8中的任一权利要求所述的热分析仪，其中，所述热分析仪是芯片式差示扫描量热仪。10.一种控制热分析仪的方法，其中，所述热分析仪包括用于容纳样本(206)的样本位置(201，401)，参考位置(202，402)，与所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)相关联的加热模块，用于设置温度标称值对时间的预定温度程序的模块，用于测量所述样本位置(201，401)处的样本温度(Ts)的第一传感器(407)，用于测量所述参考位置(202，402)处的参考温度(TR)的第二传感器(408)，以及控制器(423)，所述控制器(423)控制所述加热模块的加热功率，其中，所述方法包括以下步骤：将样本(206)置于所述样本位置(201，401)上，通过控制所述加热模块的加热功率来将所述预定温度程序应用到所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)，以及根据时间确定所述样本温度(TS)，其特征在于，通过样本温度(Ts)对所述加热模块的加热功率进行控制，以使所测量的样本温度(TS)实质上跟随所述预定温度程序，以及从测量所述样