一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法与装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109974914A(43)申请公布日2019.07.05(21)申请号201910309743.X(22)申请日2019.04.17(71)申请人福州大学地址350108福建省福州市闽侯县上街镇福州大学城学院路2号福州大学新区(72)发明人关向雨(74)专利代理机构福州元创专利商标代理有限公司35100代理人蔡学俊(51)Int.Cl.G01L5/00(2006.01)G01L1/24(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法与装置(57)摘要本发明涉及一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法与装置，涉及电力设备技术领域，包括以下步骤：在梅花触头触指上端刚性焊接镀金光纤位移传感器；在梅花触头动触头插入前对梅花触头静触头各触指圆周方向形变量进行调零；插入梅花触头动触头，通过刚性焊接镀金光纤位移传感器测量不同触指之间的圆周方向形变量；根据圆周方向的形变量确定不同触指间径向形变量；根据触指径向形变量确定各触点接触压力分布。该检测方法与装置可实现梅花触头各个触指分布式接触压力的离线和在线测量，能够及时发现由于装配工况不良等引起的早期接触隐患，提高梅花触头的工作可靠性。CN109974914ACN109974914A权利要求书1/1页1.一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）在梅花触头触指上端刚性焊接镀金光纤位移传感器；（2）在梅花触头动触头插入前对梅花触头静触头各触指圆周方向形变量进行调零；（3）插入梅花触头动触头，通过刚性焊接镀金光纤位移传感器测量不同触指之间的圆周方向形变量；（4）根据圆周方向的形变量确定不同触指间径向形变量；（5）根据触指径向形变量确定各触点接触压力分布。2.根据权利要求1所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，步骤（1）中，在自由状态下的梅花触头静触头各个触指上标记焊点，焊点的位置位于各个触指外侧面厚度方向的中间位置，将光纤位移传感器对应梅花触头焊点位置的纤体进行镀金处理，通过刚性焊接将光纤焊接在梅花触头静触头各触指的焊点位置。3.根据权利要求2所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，所述光纤位移传感器为分布式光纤位移传感器。4.根据权利要求1、2或3所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，步骤（2）中，记录梅花触头动触头尚未插入时的梅花触头圆周向光纤位移传感器的输出作为圆周-径向形变模块的圆周形变基准值，并将圆周方向形变量输出设置为零。5.根据权利要求1所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，步骤（3）中，插入梅花触头动触头，通过光纤解调模块获取梅花触头静触头各触指圆周方向的形变量，其大小等于测量值减去基准值。6.根据权利要求1所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，步骤（4）中，根据获得的各触指间的圆周形变量获得导体对接后的梅花触头外接圆特性，通过与自由状态下的梅花触头外接圆特性对比获取各个触指径向变形分布。7.根据权利要求1所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法，其特征在于，步骤（5）中，根据梅花触头触指径向位移分布，通过非线性接触力学计算获取梅花触头各个触指的接触压力值。8.一种梅花触头分布式接触电阻压力检测装置，其特征在于，包括待测梅花触头静触头，所述待测梅花触头静触头上沿周向间隔设置有待测梅花触头动触头，所述待测梅花触头动触头的外侧端上分别设置有镀金焊点，所述镀金焊点处设置有与待测梅花触头静触头的触指刚性连接的光纤位移传感器，所述光纤位移传感器上连接有光纤解调模块，所述光纤解调模块上连接有圆周-径向形变转换模块，所述圆周-径向形变转换模块与接触压力求解模块相连接。9.根据权利要求8所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测装置，其特征在于，所述待测梅花触头动触头与待测梅花触头静触头过盈装配连接。10.根据权利要求8或9所述的一种梅花触头分布式接触电阻压力检测装置，其特征在于，所述光纤位移传感器为分布式光纤位移传感器。2CN109974914A说明书1/3页一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法与装置技术领域[0001]本发明涉及一种梅花触头分布式接触电阻压力检测方法与装置，涉及电力设备技术领域。背景技术[0002]梅花触头是一种采用多片触指并联结构的高电压/大电流滑动电力连接器，作为主导电回路连接件广泛应用于隔离开关，开关柜，气体绝缘组合电器（GIS）等中高压电力设备中。梅花触头各个触指与导体之间的接触压力通过若干个环形抱紧弹簧提供，在设备设计，安装和现场运行过程中，由于装配公差，交变环境温度和负荷电流的影响，梅花触头的动触头（导体）与