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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108376821A(43)申请公布日2018.08.07(21)申请号201810073360.2(22)申请日2018.01.25(71)申请人电子科技大学地址611731四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号(72)发明人汪晓光张开宁陈良肖阳田伟成张丽君(74)专利代理机构电子科技大学专利中心51203代理人闫树平(51)Int.Cl.H01P5/20(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图7页(54)发明名称一种Ka波段基片集成波导魔T(57)摘要本发明涉及微波器件、传输线技术,具体涉及一种Ka波段基片集成波导魔T。本发明通过SIW魔T下层主波导采用圆楔形金属通孔使H-T分支匹配,并使用感性金属膜片消除该圆楔形金属通孔产生寄生电容的影响,从而降低H臂端口的回波损耗。而上层E-T分支由于电耦合会在耦合缝处产生寄生电容,所以使用感性金属块消除其影响,从而降低E臂端口的回波损耗。最终,本发明将SIW魔T的工作带宽提升至2GHz,幅度不平衡度降低至0.1dB。CN108376821ACN108376821A权利要求书1/1页1.一种Ka波段基片集成波导魔T,包括设置有耦合缝的上下两层介质基片,其特征在于:所述下层介质基片是魔T的H-T分支,上层介质基片通过电耦合的方式实现E-T分支,两层介质基片平行重叠,且上下层介质基片的横向边沿和纵向边沿分别对应平行,波导由介质基片上周期性排列的金属通孔构成;下层介质基片设置有主波导和分支波导,形成轴对称的H-T分支,分支波导的中心线垂直于主波导的中心线,耦合缝沿H-T分支波导的对称轴设置;主波导采用圆楔形金属通孔使H-T分支匹配,该圆楔形金属通孔产生寄生电容,下层基片的耦合缝设置于圆楔形的尖端处,上下两层介质基片的耦合缝位置相对应;所述上层介质基片的E臂设有贯穿上层介质基片的调配金属块,以消除上层E-T分支由于电耦合会在耦合缝处产生寄生电容的影响;调配金属块的宽度与基片集成波导的厚度相同,其上边沿与下边沿分别在波导的上下平面上。2.如权利要求1所述Ka波段基片集成波导魔T,其特征在于:在下层介质基片的H臂还设有贯穿下层介质基片的调配金属膜片,以消除圆楔形金属通孔产生寄生电容的影响,调配金属膜片与基片集成波导的厚度相同,其上边沿与下边沿分别在波导的上下平面上。3.如权利要求1所述Ka波段基片集成波导魔T,其特征在于,结构参数如下:基片集成波导基板厚度t:0.8mm基片集成波导宽度k:5.6mm通孔半径r1:0.25mm通孔间距j:0.8mm圆楔状匹配半径r:2.4mm圆楔中金属通孔半径:0.07mm耦合缝宽度g:0.4mm下层H臂调配膜片厚度:0.01mm下层H臂调配膜片长度l:0.4mm下层H臂调配膜片宽度:0.8mm耦合缝隙的长度b:4.4mm上层E臂调配金属块长度a:0.68mm上层E臂调配金属块厚度h:0.09mm上层调配金属块到耦合孔中心的距离u:0.95mm下层调配金属膜片到端口4的距离d:2.4mm耦合缝隙在E臂中的纵向偏置ox:0.7mm耦合缝隙在E臂中的横向偏置oz:1.45mm。2CN108376821A说明书1/3页一种Ka波段基片集成波导魔T技术领域[0001]本发明涉及微波器件、传输线技术,具体涉及一种Ka波段基片集成波导魔T。背景技术[0002]作为一种常用的微波电桥,魔T在微波电路设计中发挥着举足轻重的作用。它非常广泛地应用在阻抗测量、E-H调配器、双工器和雷达系统所需的和差网络中。对于传统矩形波导魔T,是通过公共对称面的ET,HT接头的组合来实现的,其具有功率容量高、端口特性好等优点,但却存在着尺寸较大,调谐困难等缺点。[0003]随着现代微波电路的发展,电子器件的集成化和小型化变得极为重要,由此提出了一种平面集成波导技术—基片集成波导(SIW)。它是通过在低损耗介质基片上周期性排列金属化通孔实现的,集合了传统金属波导与微带电路的优点,如:高Q值,高功率容量,较小的尺寸,易于集成等,同时由于整个结构为介质基片上形成金属化通孔而成,其制备可以通过PCB或LTCC精确实现,非常适合应用于微波电路的设计。[0004]近几年,由于SIW技术的优势,目前已经广泛应用于滤波器,耦合器,环形器,功分器等器件的设计,极大的推动了基片集成波导技术的发展。利用基片集成波导技术进行魔T的设计,不仅可以减小魔T的体积,使器件更加轻便,而且更有利于与其它电路的集成。但是对于基片集成波导结构魔T,其E面接头难以实现,而且会因为接头连接处的不连续性产生失配,影响性能,因此,E-T接头的实现及连接处的阻抗匹配就成为SIW魔T要解决的核心问题。发明内容[0005]针对上述存在的问题或缺陷,为解决SIW魔T