一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置及测量方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115435655A(43)申请公布日2022.12.06(21)申请号202211212078.0(22)申请日2022.09.30(71)申请人安徽皖南烟叶有限责任公司地址242000安徽省宣城市鳌峰中路72号(72)发明人刘云慧孔令斌张弋春贺陕宁王明亮祝世敏(74)专利代理机构芜湖安汇知识产权代理有限公司34107专利代理师张巧婵(51)Int.Cl.G01B5/00(2006.01)G01B5/06(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图2页(54)发明名称一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置及测量方法(57)摘要本发明公开了一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置及测量方法，涉及农田垄高测量技术领域，包括卡装在田垄上的测量板，所述测量板靠近田垄的一侧设有第一接触面，所述第一接触面上设有饱满度测量面，所述测量板上设有垄高测量线，所述垄高测量线设置于饱满度测量面之间位置。手持测量板插在地面上，将田垄收纳于第一接触面中，测量田垄两侧面与饱满度测量面之间的距离，从而实现对田垄饱满度的测量；测量田垄上表面与垄高测量之间的距离，从而实现对田垄的高度进行测量，将测量垄高和垄体饱满度为一体的工具，通过一个测量装置实现对田垄的高度与饱满度的测量，便于使用，且结构简单，成本较低，便于推广使用。CN115435655ACN115435655A权利要求书1/1页1.一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，包括卡装在田垄上的测量板(1)，所述测量板(1)靠近田垄的一侧设有第一接触面(2)，所述第一接触面(2)上设有饱满度测量面(3)，所述测量板(1)上设有垄高测量线(5)，所述垄高测量线(5)设置于饱满度测量面(3)之间位置。2.根据权利要求1所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述测量板(1)为弧形板。3.根据权利要求1所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述第一接触面(2)为弧形面，所述第一接触面(2)设置于测量板(1)中间位置。4.根据权利要求2所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述饱满度测量面(3)为斜面，所述饱满度测量面(3)数量为两个，两个所述饱满度测量面(3)对称设置于测量板(1)上，所述测量板(1)上设有与饱满度测量面(3)垂直的参考线(6)。5.根据权利要求4所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述测量板(1)中间位置设有与两个饱满度测量面(3)连接的第二接触面(4)，所述第二接触面(4)为弧形面，所述垄高测量线(5)与第二接触面(4)相切。6.根据权利要求1‑5任一所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括测量尺(9)，所述测量板(1)上设有卡装板(8)，所述测量尺(9)套设在卡装板(8)和测量板(1)之间。7.根据权利要求6所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述卡装板(8)上设有开口(801)。8.根据权利要求1所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，所述测量板(1)上设有通孔(7)。9.一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量方法，使用权利要求1‑8任一所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置，其特征在于，具体步骤为：①、手穿过测量板(1)上的通孔(7)将整个测量板(1)稳定握住，将测量板(1)的垂直卡在田垄上，此时田垄位于第一接触面(2)内；②、将测量板(1)上的卡装板(8)中的测量尺(9)取出；③、使用测量尺(9)测量田垄至饱满度测量线(3)的直线距离L1，如果L1≤4cm，则说明垄体高于饱满度标准；如果4cm＜L1≤7cm，则说明垄体符合饱满度标准；如果7cm＜L1，则说明垄体不符合饱满度标准；④、使用测量尺(9)测量田垄最高处至垄高测量线(5)的直线距离L2，垄高L3＝(35‑L2)cm，如果34cm≤L3，则垄高高于垄高标准；如果32cm≤L3＜34cm，则垄高符合垄高标准；如果L3＜32cm，则垄高不符合垄高标准，不符合烟叶种植的垄体要求。10.根据权利要求9所述的烟叶揭膜培土环节垄体质量测量方法，其特征在于，雨后测量垄高，垄高标准沉降1‑2cm。2CN115435655A说明书1/4页一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置及测量方法技术领域[0001]本发明涉及农田垄高测量技术领域，尤其涉及一种烟叶揭膜培土环节垄体质量测量装置及测量方法。背景技术[0002]田垄，及分开田亩的土埂或田间种植作物的垄。烟叶幼苗一般种植在田垄上。而田垄的高度对烟叶种植后的成品质量有着重要影响。因此，在烟叶种植时前需要对田垄的垄高进行测量。[0003]传统的垄高测量方法：相邻的两垄之间横着放置一根杆，再使用钢卷尺测量横杆到垄沟的垂直距离，即为垄