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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN101949871A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN101949871A(43)申请公布日2011.01.19(21)申请号201010257008.8(22)申请日2010.08.18(71)申请人中国科学院半导体研究所地址100083北京市海淀区清华东路甲35号(72)发明人熊波李晋闽林学春侯玮郭林陈然马建立农光壹(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任公司11021代理人周国城(51)Int.Cl.G01N25/20(2006.01)G01R21/04(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图2页(54)发明名称一种测量非线性晶体热功率大小的装置(57)摘要本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置,包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部,工作于某一设定的温度T1条件下,起到激光变频的作用;温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0,并将该值反馈给智能模块;智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较,据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压,将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下;控温炉采用加热丝作为加热元件;温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统,示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明,实现了非线性晶体热功率大小的测量。CN109487ACCNN110194987101949874A权利要求书1/1页1.一种测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,该装置包括非线性晶体(101)、温度传感器(102)、智能模块(103)、控温电源(104)、控温炉(105)和示波器(106),其中:非线性晶体(101),放置于控温炉(105)内部,工作于某一设定的温度T1条件下,起到激光变频的作用;温度传感器(102),用于测量非线性晶体(101)的实际工作温度T0,并将该值反馈给智能模块(103);智能模块(103),用于将温度传感器(102)测量到的非线性晶体(101)的实际工作温度T0与设定的温度T1比较,据此调节控温电源(104)向控温炉(105)输出的加热电压,将非线性晶体(101)控制于设定的工作温度T1下;控温炉(105),采用加热丝作为加热元件;温度传感器(102)、智能模块(103)、控温电源(104)和控温炉(105)构成成控温系统(001),示波器(106)实时测量控温电源(104)向控温炉(105)输出的加热电压的波形W。2.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述非线性晶体(101)在未进行激光变频的时候,为了将非线性晶体(101)维持在设定的工作温度T1条件下,控温电源(104)需要向控温炉(105)输出一定的加热电压,示波器(106)记录下一段时间t内控温电源(104)向控温炉(105)输出的加热电压波形W1,根据加热电压波形W1和控温炉(105)内部加热电阻丝的电阻值可以计算出控温炉(105)产生的加热电功率大小P1。3.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述非线性晶体(101)在进行激光变频的时候,为了将非线性晶体(101)仍然维持在设定的工作温度T1条件下,控温电源(104)需要向控温炉(105)输出不同的加热电压,示波器(106)记录下此种情况下一段时间t内控温电源(104)向控温炉(105)输出的电压波形W2,根据电压波形W2和控温炉(105)内部加热电阻丝的电阻值计算出控温炉(105)产生的加热电功率大小P2。4.根据权利要求2和3所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述控温炉(105)产生的加热电功率大小P1和P2之间存在差异,此差异值P1-P2即为非线性晶体(101)在进行激光变频的过程中因吸收激光而产生的热功率的大小。5.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述控温炉(105)的加热元件是热电制冷器。6.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述非线性晶体(101)包括PPLN、PPKTP、PPLT、KTP、LBO或BBO晶体。7.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述非线性晶体(101)进行的激光变频过程包括光参量振荡、倍频以及和频。8.根据权利要求1所述的测量非线性晶体热功率大小的装置,其特征在于,所述非线性晶体(101)进行激光变频过程中吸收的激光是基频光,或者是变频光。2CCNN110194987101949874A说明书1/5页一种测量非线性晶体热功率大小的装置技术领域[0001]本发明涉及激光技术领域,尤其涉及一种测量非线性晶体