用于测量材料温度的装置和方法.pdf
白凡****12
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用于测量材料温度的装置和方法.pdf
本发明公开了用于测量材料温度的装置,包括:本体单元,其设置在加热炉的出口侧上;温度测量单元,其安装在所述本体单元上并且构造成测量从加热炉提取的材料的温度;外来物质去除单元,其安装在所述本体单元上并且构造成朝材料喷射流体以便去除粘附于材料的外来物质;以及移动单元,其安装在本体单元上并且构造成移动温度测量单元。根据本发明,在去除已形成在材料表面上的诸如污垢等外来物质之后测量材料温度,从而提高了材料温度测量的可靠性。
温度测量装置和测量温度的方法.pdf
本发明涉及温度测量装置和测量温度的方法。一种基于应用斯特凡‑玻尔兹曼定律并使用要被测量的对象的测量值和环境温度值(Ta)的方程组来测量温度的方法,该方法包括:预先计算(200,202)第一向量(LUT1)和第二向量(LUT2)。第一向量(LUT1)是基于相应的温度值并且关于预定的通用温度范围与所接收的功率成比例的一系列值。第二向量(LUT2)是基于预期的所测量的温度值并关于预定范围的预期的对象所测量的温度的一系列灵敏度特性因子值。第一向量(LUT1)和第二向量(LUT2)被用于(206)生成受限于环境温度
用于测量薄膜材料相变温度的装置及方法.pdf
本发明涉及一种用于测量薄膜材料相变温度的装置,包括衬底、电极、红外温度探测器、激光光源、多普勒探测器、飞秒脉冲激光光源;衬底用于铺设待测薄膜,电极置于待测薄膜上,红外温度探测器监测待测薄膜的温度;激光光源向待测薄膜表面斜射探测光,飞秒脉冲激光光源向同一入射点垂直射入飞秒激光脉冲,从而在薄膜内产生声波,使探测光在待测薄膜表面的反射光引起多普勒频移,多普勒探测器用于探测该反射光的多普勒频移信号。本发明测量装置及方法利用飞秒激光诱导薄膜产生声波,利用薄膜晶态和非晶态之间折射率的差异,反应声波在一定厚度薄膜内传播
测量温度的方法、装置、服务器和测量温度的系统.pdf
本发明提供了一种测量温度的方法、装置、服务器和测量温度的系统,从图像采集设备获取的环境图像中检测目标对象,并确定目标对象的第一位置;通过热成像设备获取环境图像对应的热成像图像,基于第一位置确定目标对象的热成像温度;通过温度采集设备获取环境温度;根据环境温度和温度采集设备在热成像图像中的热成像温度,调整目标对象的热成像温度得到目标对象的实际温度。该方式通过环境温度及温度采集设备的热成像温度校正热成像设备的温度漂移,可基于目标对象的热成像温度得到精确的目标对象的实际温度,且该方式采用温度采集设备替代现有的黑体
用于校准牙科烘箱的温度测量装置的方法和校准元件.pdf
本发明涉及一种用于借助于至少一个校准元件(6)校准牙科烘箱(2)的温度测量装置(1)的方法,所述至少一个校准元件(6)在加热时段(dt)期间在牙科烘箱(2)中被加热,其中所述至少一个校准元件(6)具有至少一种测量材料(7),所述至少一种测量材料(7)具有在第一转变温度(TC1)下发生的可逆相转变,所述相转变导致所述牙科烘箱(2)的至少一个第一参数(I)的突变,炉腔(3)中的温度借助于所述温度测量装置(1)测量作为实际温度(T),并且测量所述参数(I),识别所述第一参数(I)的至少一个第一突变(dI1),确