基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN103148805A*(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103148805103148805A(43)申请公布日2013.06.12(21)申请号201310079110.7(22)申请日2013.03.13(71)申请人洛阳兰迪玻璃机器股份有限公司地址471000河南省洛阳市伊滨区希望大道6号(72)发明人李彦兵刘宾(74)专利代理机构洛阳公信知识产权事务所(普通合伙)41120代理人张彬(51)Int.Cl.G01B11/24(2006.01)权权利要求书1页利要求书1页说明书4页说明书4页附图3页附图3页(54)发明名称基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置(57)摘要基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，包括对玻璃进行钢化加工处理的加热炉、设置在加热炉两侧的上片台、钢化冷却段和下片台、用于控制钢化炉工作过程的控制系统和光源，在辊道传送机构的下方还设有用于接收光强度分布信息的探测器，所述的探测器包括一壳体，壳体前端设有光衰减窗口，光衰减窗口后端设有准直器，准直器后端设有用于接收光强度信息并转化为电信号的光敏单元，探测器将接收到被检测玻璃的外形图像信号传输给控制系统并显示。该装置中，通过光衰减窗口避免环境光的影响，通过后准直器对环境杂散光进行有效遮挡，透过光更好的被光敏单元接收，从而对玻璃的外形轮廓进行有效地探测，提高玻璃外形识别的正确率。CN103148805ACN103485ACN103148805A权利要求书1/1页1.基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，包括对玻璃进行钢化加工处理的加热炉（2）、设置在加热炉（2）两侧的上片台（3）、钢化冷却段（4）和下片台（5）、用于控制钢化炉工作过程的控制系统和光源（7），在上片台（3）和下片台（5）上分别设有辊道传送机构（6），辊道传送机构（6）上设有多个辊道，通过辊道的转动带动被检测玻璃在上片台（3）和下片台（5）上移动，光源（7）的输出光照射在被检测玻璃上，其特征在于；在辊道传送机构（6）的下方还设有用于接收光强度分布信息的探测器（8），所述的探测器（8）包括一壳体（801），壳体（801）前端设有光衰减窗口（802），所述光衰减窗口（802）具有380nm-780nm的通带，且光衰减窗口（802）对应辊道之间的间隙处，光衰减窗口（802）后端设有准直器（803），准直器（803）后端设有用于接收光强度信息并转化为电信号的光敏单元（804），探测器（8）将接收到被检测玻璃的外形图像信号传输给控制系统并显示。2.根据权利要求1所述的基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，其特征在于：所述的探测器（8）内还设有信号处理单元，探测器（8）将接收的信号通过信号处理单元处理成可用的电信号并传输给控制系统。3.根据权利要求2所述的基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，其特征在于：所述信号处理单元包括积分放大模块和A/D转换模块，探测器（8）内部的光敏单元（804）输出的信号依次经积分放大模块和A/D转换模块处理后，输出数字信号给传输给控制系统。4.根据权利要求3所述的基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，其特征在于：所述的准直器（803）为准直透镜。5.根据权利要求3所述的基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，其特征在于：所述的光敏单元（804）为光电二极管。2CN103148805A说明书1/4页基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置技术领域[0001]本发明涉及一种用于玻璃外形参数的测量系统，具体涉及一种基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置。背景技术[0002]目前，玻璃行业逐渐采用光源结合相机对玻璃的综合几何参数进行测量以达到在生产过程中实施监控的目的，例如，已公开专利：用于监控安全玻璃生产和控制加工过程的方法和设备，该方法及设备利用高强度光源照射在被测玻璃表面，相机在通过接受反射的光强度信号来分析相关的数据，该方法中所具有的缺点是：其一、在使用过程中对光的入射角度和检测面的角度有特殊要求，当设置角度存在偏差时，测量所得到的数据也存在较大误差；其二、该设备测量过程中易受到环境光的影响，这将导致测量的数据不精确。发明内容[0003]为了解决上述技术问题，本发明提供一种基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，该装置中探测器内部依次设置光衰减窗口、准直器和光敏单元，通过光衰减窗口避免环境光的影响，通过后准直器对环境杂散光进行有效遮挡，透过光更好的被光敏单元接收，从而对玻璃的外形轮廓进行有效地探测，提高玻璃外形识别的正确率。[0004]本发明所采用的技术方案为：基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，包括对玻璃进行钢化加工处理的加热炉、设置在加热炉两侧的上片台、钢化冷却段和下片台、用于控制钢化炉工作过程的控制系统和光源，在上