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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号CN110049588B(45)授权公告日2022.02.11(21)申请号201810043805.2(56)对比文件CN10(22)申请日2018.01.156813271A,2017.06.09CN107548177A,2018.01.05(65)同一申请的已公布的文献号CN107404779A,2017.11.28申请公布号CN110049588AJP2001337019A,2001.12.07(43)申请公布日2019.07.23CN106152193A,2016.11.23(73)专利权人佛山市顺德区美的电热电器制造审查员李英有限公司地址528311广东省佛山市顺德区北滘镇三乐东路19号(72)发明人周升曾燕侠吴祥李娟汪钊(74)专利代理机构深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287代理人胡海国(51)Int.Cl.H05B6/06(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图3页(54)发明名称电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉(57)摘要本发明公开了一种电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉,该电磁炉的锅具检测方法包括以下步骤:电磁炉的加热功能开启后,控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压,并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较;记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数;根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数,判断所述电磁炉上有无锅具。本发明电磁炉的锅具检测方法缩短了电磁炉的检锅时间,同时还提高了电磁炉检锅的通用性。CN110049588BCN110049588B权利要求书1/2页1.一种电磁炉的锅具检测方法,其特征在于,所述电磁炉的锅具检测方法,包括以下步骤:S10,电磁炉的加热功能开启后,控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压,并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较;S20,记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数;S30,根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数,判断所述电磁炉上有无锅具;所述步骤S30包括:S31,判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数;S32,若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数,则判断所述电磁炉上无锅具;S33,若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数,则判断所述电磁炉上有锅具;所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms。2.如权利要求1所述的电磁炉的锅具检测方法,其特征在于,所述预设参考电压大于310V且小于800V。3.如权利要求1或2所述的电磁炉的锅具检测方法,其特征在于,所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。4.一种电磁炉的锅具检测装置,其特征在于,所述电磁炉的锅具检测装置包括:电压比较电路、MCU以及存储在所述MCU内并可在所述MCU上运行的电磁炉的锅具检测程序,其中:所述电压比较电路,用于获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压,并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较;所述电磁炉的锅具检测程序被所述MCU执行时实现以下步骤:S10,电磁炉的加热功能开启后,控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压,并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较;S20,记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数;S30,根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数,判断所述电磁炉上有无锅具;所述电磁炉的锅具检测程序被所述MCU执行时实现以下步骤:S31,判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数;S32,若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数,则判断所述电磁炉上无锅具;S33,若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数,则判断所述电磁炉上有锅具;所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms。5.如权利要求4所述的电磁炉的锅具检测装置,其特征在于,所述预设参考电压大于310V且小于800V。2CN110049588B权利要求书2/2页6.如权利要求4或5所述的电磁炉的锅具检测装置,其特征在于,所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。7.一种电磁炉,其特征在于,所述电磁炉包括权利要求4‑6中任一项