ProE官方教程---扫描与混合进阶.pdf

2໖໰௷ඬᇎ౏ӵ(AdvancedSweep＆Blend)2-1Graph2-2VarSecSwp2-3SweptBlend2-53DSweep2-4HelicalSweepᄌᐇPro/ENGINEER2000i2໖໰ফݣ在筆者前兩本基礎入門課程中的第六章，已帶各位接觸「Sweep」(掃描)與「Blend」(混合)之功能。單純的「掃描」與「混合」特徵，於使用上總是顯得有些不盡完美、變化性不高！幸運地，Pro/E系統另外提供了兩個相當實用的功能－「VarSecSwp」(可變截面掃描)與「SweptBlend」(掃描混合)特徵，此兩項特徵不僅具備原本「Sweep」與「Blend」之精神，更是擴展了模型建構之彈性，希望各位讀者能投注心思，加以熟練！。「HelicalSweep」(螺旋掃描)特徵功能是處理：掃描軌跡繞圈規則性前進，產生如彈簧、螺紋外形之螺旋特徵。【圖2-1】與【圖2-2】為「實體」(Solid)特徵與「曲面」(Surface)特徵功能之選單分佈情況，可明顯看出其內容幾乎是相同的。本章主要著眼於前三項特徵功能－VarSecSwp、SweepBlend與HelicalSweep(其它特徵功能請參考入門基礎之第十五章內容)，實體或曲面之使用情況皆會加以描述。另一方面，建構「VarSecSwp」特徵時，往往會配合「Graph」(圖形)特徵，故本章第一節會先說明「Graph」特徵之特性與使用技巧。最後一節，利用單純的「Sweep」特徵功能，導入3D觀念產生所謂的「3DSweep」(三維掃描)結果。2-2第二章進階掃描與混合【圖2-1】實體特徵選單【圖2-2】曲面特徵選單2-3ᄌᐇPro/ENGINEER2000i2໖໰ফݣკ׎੝ቻɡGraph2-1「Graph」(圖形，)特徵是指數學上「函數」(Function，y＝f(x))之關係：給定X值，由函數圖形關係求得Y值。故必須遵守函數成立之基本原則：給定單一X值只能求得單一Y值(一對一關係)。【圖2-3】Datum－Graph「Graph」(圖形)亦屬幾何特徵，會顯示於ModelTree視窗中(如【圖2-4】之GRAPH1)，使用時可由SelByMenu(選單選取)或直接從ModelTree(模型樹)中選取。【圖2-4】2-4第二章進階掃描與混合，Graph」(圖形)特徵就是要將X-Y關係用「კ׎ϯ」形式表現」成份須包括：Ӝᆀ、০኱চᗺ、X-ື、Y-ື、ᜢ߯Ԕጕ等。步驟如下：步驟一名稱(大小寫同義)：輸入圖形特徵之名稱，或接受預設名稱：GRAPH1、Graph2、…。步驟二座標原點：使用「草繪型座標系」()作為「原點」與「尺寸標註參考」。該「草繪型座標系」之X-軸正向是水平向右、Y-軸正向是鉛直向上。步驟三X-軸、Y-軸：分別利用一水平、一鉛直之「中心線」來代表X-軸與Y-軸。而且，兩中心線之交點可與「草繪型座標系」重合。值得注意的是：此步驟並非絕對必要，產生中心線僅是為了視覺上表現清楚，以該兩條”ύЈጕ”作為尺寸標註參考。步驟四關係曲線：利用草繪之圖元功能，將函數關係表現出來，並加上尺寸標註，如【圖2-5】所示。※若某尺寸所指定的X值超出目前圖形的明示範圍，則系統會沿圖形切線方向”外插”取得相對應之Y值。2-5ᄌᐇPro/ENGINEER2000i2໖໰ফݣ!!ύЈጕ٠ߚѸा【圖2-5】ѯמGraphᆶRelationϐଛӝᔈҔ於「VarSecSwp」特徵建構過程中，可將「Graph」特徵加諸於某一個剖面尺寸上，藉以控制該尺寸於掃描過程之變化。故在Relation狀態，圖形(Graph)特徵之編寫格式如下：sd#＝evalgraph(“圖形特徵之名稱”,X之範圍)其中，sd#表剖面尺寸編號、evalgraph(“”,)即為Y值。例如：sd3＝evalgraph(“GRAPH1”,0＋17.07*trajpar)*4其中，Graph特徵之名稱是：GRAPH1，X-軸範圍是0到17.07，剖面尺寸sd3是依據Y-軸高度放大為4倍，「trajpar」表「軌跡參數」(TrajectoryParameter)，範圍是0至1之間的連續變動，其特性與曲線建立方式之一的「FromEquation」(從方程)中之參數「t」相同。2-6第二章進階掃描與混合「Graph」(圖形)特徵最常使用於兩種情況：(1)「OffsetFromSrf」(曲面偏距)：是基準曲線產生方式之一，朝曲面(包括基準面)之法線方向，移動落於該曲面(或基準面)上之現存曲線，其平移距離由「Graph」特徵來決定且能指定「平移量比例」，不過此函數圖形僅限為單一線段。如【圖2-6】所示，輸入「平移量比例」：70，即起點高度值增為7(0.1×70)、終止點則為21(0.3×70)。(圖形特徵)起始點平移方向217【圖2-6】Offse