预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/7
2/7
3/7
4/7
5/7
6/7
7/7

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110564984A(43)申请公布日2019.12.13(21)申请号201910796853.3G01N1/28(2006.01)(22)申请日2019.08.27(71)申请人河北立中有色金属集团有限公司地址071100河北省保定市清苑区发展西路338号(72)发明人宗福春葛素静毛贻国苑高利刘永昌孟红彦(74)专利代理机构北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435代理人郭栋梁(51)Int.Cl.C22C1/03(2006.01)C22C1/06(2006.01)C22C21/02(2006.01)C22F1/043(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图1页(54)发明名称一种铸造铝硅合金控样制备方法(57)摘要本发明公开了一种铸造铝硅合金控样制备方法,步骤如下:S1、铝合金成分设计;S2、熔炼、铸造:按照配比将炉料加入到坩埚电阻炉中,进行熔炼、精炼,测量氢气含量和成分合格后,向水冷铜模具里浇注制备控样;S3、分析检验:检验低倍组织、显微组织、断口组织后,挑选初检合格的控样,锯切、表面扒皮;S4、进行均匀化处理后,再进行成分均匀性和稳定性分析,对控样进行定值;S5、对控样表面进行精车,加工成控样成品。本发明采用上述一种铸造铝硅合金控样制备方法,能够制备化学成分均匀、稳定、冶金加工过程与试样保持一致的控样,提高分析结果准确性,提高工作效率,降低检测成本。CN110564984ACN110564984A权利要求书1/1页1.一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于,步骤如下:S1、铝合金控样元素设计:根据被检测铝合金产品特点,设计的铝合金控样元素组成及含量与被检测产品一致,选用炉料包括高纯铝合金、其它高纯金属及经过偏析检验的高质量中间合金;S2、熔炼、铸造:按照配比将炉料加入到坩埚电阻炉中,进行熔炼、精炼,测量氢气含量和成分合格后,向水冷铜模具里浇注制备控样;S3、分析检验:检验低倍组织、显微组织、断口组织后,挑选初检合格的控样,锯切、表面扒皮;S4、进行均匀化处理后,再进行成分均匀性和稳定性分析,对控样进行定值;S5、对控样表面进行精车,加工成控样成品。2.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于:在步骤S1中,铝合金控样设计的元素组成及含量与被检测产品一致,产品Si含量小于8%时,以Al-Si20中间合金形式加入;产品Si含量大于8%时,以Al-Si25中间合金形式加入,同时进行变质细化处理,保证成分、组织分布均匀。3.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于,在步骤S2中,纯金属和其它中间合金的加料顺序和熔化温度、精炼工艺参数如下:(1)高纯铝与Al-Si中间合金、Al-Mn中间合金、Al-Ni中间合金、Al-Fe中间合金随炉加入,当熔化后加入Al-Cu中间合金,除渣后再加入高纯镁和Al-Ti中间合金,精炼结束前加入变质剂;(2)熔化温度为740±15℃;(3)除渣、精炼温度730±15℃;(4)精炼剂加入量1-3‰,除渣时间5-10min,精炼时间15-60min,精炼后检测含氢量,要求≤0.15ml/100g。4.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于:在步骤S2中,水冷铜模具上设有过滤装置,控样型腔下部内径为80mm、上部内径95mm、深度为250mm,控样型腔外部布置纵横交错的水道,水量为20-40L/min,水道外面由厚度为20mm锻铝包裹,锻铝外径为150mm。5.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于:在步骤S3中,采用体视显微镜检测控样晶粒大小和断口夹渣,要求晶粒度优于2级,断口无夹渣;采用工业CT检测控样内部针孔、气孔、夹渣的缺陷,要求无针孔、夹渣;采用金相显微镜检测初晶硅,要求Si含量小于10%时,初晶硅尺寸为≤10um,Si含量大于10%时,初晶硅尺寸为≤50um;根据检测结果符合要求控样通过锯切车削成的圆柱控样。6.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于:在步骤S4中,均匀化热处理温度在500-550℃区间,均匀化时间为12-24h;采用不同型号、不同人员、不同厂家的直读光谱仪检测控样成分10次以上,剔除可疑值,平均值为最终给定控样值,并计算标准偏差。7.根据权利要求1所述的一种铸造铝硅合金控样制备方法,其特征在于:在步骤S5中,将控样表面车削成的圆柱控样成品。2CN110564984A说明书1/4页一种铸造铝硅合金控样制备方法技术领域[0001]本发明涉及光谱检测用控样制备技术领域,特别是涉及一种铸造铝硅合金控样制备方法。背景技术[0002]在直读光谱分析中,为了使分析结果更准确,需要使用光谱控