一种原位高温光谱测试装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111458305A(43)申请公布日2020.07.28(21)申请号202010263948.1(22)申请日2020.04.07(71)申请人九江学院地址332006江西省九江市前进东路551号(72)发明人黄伟峰陈兴杨长春(74)专利代理机构合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)34124代理人王亚洲(51)Int.Cl.G01N21/35(2014.01)G01N21/65(2006.01)G01N21/25(2006.01)G01N21/01(2006.01)G01K7/02(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图7页(54)发明名称一种原位高温光谱测试装置(57)摘要本发明涉及原位表征领域，具体涉及一种原位高温光谱测试装置，包括外壳，外壳中设置隔热层，隔热层中设置加热炉，加热炉中设置样品台，样品台中开设开口向上的放置槽，放置槽中设置样品架，样品架上方设置样品盖，样品盖上方的外壳上设置窗口，外部光线能够透过窗口入射到样品架中；所述外壳中设置冷却系统；还包括能够检测样品架中温度的温度检测装置；还包括气路系统，所述外壳的内外部之间密封，气路系统能够从样品架下方进气，并从样品架上方排出外壳外部。本发明的优点在于：能够同时兼顾各类光谱学测试及气体环境和高压。CN111458305ACN111458305A权利要求书1/2页1.一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：包括外壳(1)，外壳(1)中设置隔热层(2)，隔热层(2)中设置加热炉(3)，加热炉(3)中设置样品台(4)，样品台(4)中开设开口向上的放置槽，放置槽中设置样品架(5)，样品架(5)上方设置样品盖(6)，样品盖(6)上方的外壳(1)上设置窗口(7)，外部光线能够透过窗口(7)入射到样品架(5)中；所述外壳(1)中设置冷却系统；还包括能够检测样品架(5)中温度的温度检测装置；还包括气路系统(8)，所述外壳(1)的内外部之间密封，气路系统(8)能够从样品架(5)下方进气，并从样品架(5)上方排出外壳(1)外部。2.根据权利要求1所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述外壳(1)包括下壳(11)以及安装在下壳(11)上的上盖(12)，所述下壳(11)与上盖(12)之间设置密封圈；所述隔热层(2)置于下壳(11)中，所述窗口(7)设置在上盖(12)上；所述冷却系统包括设置在下壳(11)中的下壳冷却系统以及设置在上盖(12)中的上盖冷却系统。3.根据权利要求2所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述下壳(11)与隔热层(2)之间设置环形的隔热盖板(9)。4.根据权利要求2所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述上盖(12)上开设透光孔(121)，透光孔(121)位于样品盖(6)上方；所述透光孔(121)的上方设置窗片(71)，窗片(71)与上盖(12)之间设置密封圈，所述窗片(71)上方设置环形压板(72)，环形压板(72)外部设置外螺纹，所述环形压板(72)拧在上盖(12)上，环形压板(72)的底部压在窗片(71)上。5.根据权利要求2所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述下壳冷却系统包括开设在下壳(11)中的下冷却通道，下冷却通道的两端分别与外设的冷却水源连通；所述上盖冷却系统包括开设在上盖(12)中的上冷却通道，上冷却通道的两端分别与外设的冷却水源连通。6.根据权利要求1所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述隔热层(2)包括底盖(21)以及设置在底盖(21)上方的隔热套(22)，所述底盖(21)为圆环形，隔热套(22)为开口向下的圆筒形，且隔热套(22)顶部设置通孔，隔热套(22)顶部通孔及底盖(21)内孔尺寸小于隔热套(22)圆筒内径；所述样品台(4)置于隔热套(22)顶部与底盖(21)之间，所述加热炉(3)位于隔热套(22)与样品台(4)之间。7.根据权利要求1所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述加热炉(3)包括依次套设在样品台(4)外部的炉盖(31)、炉套(32)以及炉底(33)，还包括加热丝，所述炉盖(31)以及炉底(33)均为圆环形，所述炉套(32)为圆筒形，所述炉盖(31)以及炉底(33)均设置加热丝插孔，加热丝插设在炉盖(31)与炉底(33)之间，且加热丝位于炉套(32)与样品台(4)之间。8.根据权利要求1所述的一种原位高温光谱测试装置，其特征在于：所述气路系统(8)包括依次穿过外壳(1)、隔热层(2)、样品台(4)并最终通向样品架(5)底部的进气管(81)，所述进气管(81)与外壳(1)之间密封，进气管(81)与外设气源连通，且进气管(81)上设置进气阀(811)；2CN111458305A权利要求书2/2页还