用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111518974A(43)申请公布日2020.08.11(21)申请号202010334447.8(22)申请日2020.04.24(71)申请人五冶集团上海有限公司地址201900上海市宝山区铁力路2501号(72)发明人谭德灯谭春华(74)专利代理机构上海天协和诚知识产权代理事务所31216代理人张恒康(51)Int.Cl.C21B7/00(2006.01)C21B7/06(2006.01)C21B7/24(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图2页(54)发明名称用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法(57)摘要一种用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于包括以下步骤：a、检查石墨炭砖错台情况，b、初磨后对砌筑质量进行检查，c、以各测量点相对标高数据YX减去Ymin，d、依据验收标准最大相对标高差≤3mm，e、将打磨区（YX＞Ymin+3），f、以靠尺及塞尺以网格布置形式对打磨区检查，g、使用水磨石磨光机对标识“一”打磨，用靠尺及塞尺进行检查，打磨时需避免一直打磨一处位置的情况发生，h、对标识“二”使用磨光机进行研磨，完成整个平整度检测。本发明具有炭砖砌筑平整度控制程序设计合理，可操作性强，提高了高炉炭砖的砌筑的质量，显著提高一次验收合格率，减少返工和降低劳动强度的优点。CN111518974ACN111518974A权利要求书1/1页1.一种用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于包括以下步骤：a、在高炉炉底第一层石墨炭砖砌筑后，检查石墨炭砖错台情况，且对石墨炭砖错台进行初步打磨；b、初磨后对砌筑质量进行检查，在冷却壁上预留的第一层炭砖上表面设置一个作为水准仪测量数据的基准点，设基准点“0”位；在围绕所述基准点设置若干测量点，用水准仪测基准点与测量点之间的相对标高，比较基准点与测量点得出打磨区及打磨量：设Y1:为第一个测量点与基准点通过水准仪测量得出的高度，Y2:为第二个测量点与基准点通过水准仪测量得出的高度，以此类推；c、以各测量点相对标高数据YX减去Ymin，得出该点所处位置与平面最低处的相对标高差YX-Ymin，以此作为判断整个第一层的平整度相对标高差的依据；其中：Yx表示数据组中的某一个数据；Ymin表示整个数据组中测量得出的最小值，也是平面最低点；YX-Ymin表示YX所代表数据所在位置与该层平面最低处的相对标高差；d、依据验收标准最大相对标高差≤3mm，本着打磨高位，低位不动的原则，即是只打磨高点不打磨低点；第一层炭砖允许达到的最大值即为“Ymin+3”，如果“YX＞YMin+3”那么该的数据点所在位置即标识为打磨区，“YX—（YMin+3）”即为打磨量，其中：Ymin+3表示平面最低点数据加上标准允许的最大相对标高值3mm；YX＞Ymin+3表示当数据组中的任意一个数据大于平面的最低点加上标准允许的最大相对标高值3mm；YX—（YMin+3）表示数据组中的某一个数据减去平面最低点数据加上标准允许的最大相对标高值3mm；e、将打磨区（YX＞Ymin+3）使用水磨石磨光机将该区域按照打磨量（YX—（YMin+3））、从中心向四周进行打磨，打磨完成后，再次以水准仪以“0”点进行检测量，对每个打磨区设置3-4个测量点，要求所有第二次测量值Yx小于等于Ymin+3；否则对该打磨区重复打磨检查，以此保证整个炭砖平面最大相对误差≤3mm；f、以靠尺及塞尺以网格布置形式对打磨区设置的若干检查点进行检查，检查时靠尺尺每移动一次记录两端及中心位置点，且对检查后的平整度＞0.75mm的地方进行标识；标识按照平整度超标的情况进行区分：设表面平整度≥1.5mm、区域面积≥0.5㎡标记为“一”；表面平整度＜1.5mm、区域面积＜0.5㎡标记为“二”；g、使用水磨石磨光机对标识“一”进行打磨，然后再使用靠尺及塞尺进行检查，直到降为标识“二”或者达到标准，打磨时需避免一直打磨一处位置的情况发生，以免造成凹坑；h、对标识“二”使用磨光机进行研磨，打磨时边打磨边使用靠尺及塞尺进行检查，通过循环多次的打磨检查，直到炭砖的表面平整度≤1mm，完成整个平整度检测。2.如权利要求1所述的用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于，所述基准点设置为“0”。3.如权利要求1所述的用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于，所述测量点的数量选择越多越好，且测量点的分布越均匀越好。4.如权利要求1所述的用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于，所述检查点的数量选择越多越好。5.如权利要求1所述的用于高炉炉底满铺炭砖砌筑平整度控制方法，其特征在于，所述靠尺长度为≥3m。2CN111518974A说明书1/4页用于高炉炉底满铺炭砖