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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102569557A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102569557A(43)申请公布日2012.07.11(21)申请号201210005625.8(22)申请日2008.07.17(30)优先权数据2007-1860982007.07.17JP(62)分案原申请数据200880021916.82008.07.17(71)申请人住友电气工业株式会社地址日本大阪府大阪市(72)发明人斋藤雄(74)专利代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司11219代理人王海川穆德骏(51)Int.Cl.H01L33/00(2010.01)H01L21/02(2006.01)H01L21/66(2006.01)权利要求书权利要求书1页1页说明书说明书1010页页附图附图88页(54)发明名称电子器件的制作方法、外延衬底的制作方法、III族氮化物半导体元件及氮化镓外延衬底(57)摘要在工序(S103)中,在n型GaN衬底(11)上生长氮化镓基半导体层(13)。在工序(S104)中,在室温下测定包含黄带波长带的波长区域及包含与氮化镓基半导体层的带边对应的带边波长的波长区域的PL光谱。在工序(S106)中,通过将黄带波长带和带边波长的光致发光光谱强度与基准值比较而挑选外延衬底,制作已经挑选的外延衬底(E1)。在工序(S107)中,在已经挑选的外延衬底(13)上形成用于电子器件的电极(15)。CN1025697ACN102569557A权利要求书1/1页1.一种III族氮化物半导体元件,其具有肖特基结,其特征在于,具备:具有导电性的III族氮化物支撑基体;在室温下使用波长325nm的He-Cd激光器在光斑径的直径0.5mm以及功率1.2mW的激发光的条件下测定光致发光光谱时的黄带波长带的光致发光光谱强度IY与带边波长的光谱强度IBE的强度比IY/IBE为0.05以下、且设置在所述III族氮化物支撑基体的主面上的氮化镓区域;和在所述氮化镓区域中形成肖特基结的肖特基电极。2.一种III族氮化物半导体元件,其具有肖特基结,其特征在于,具备:具有导电性的III族氮化物支撑基体;设置在所述III族氮化物支撑基体的主面上、且包含具有与黄带波长带对应的能级的深能级的氮化镓区域;和在所述氮化镓区域中形成肖特基结的肖特基电极,所述氮化镓区域的所述深能级的浓度,是来自所述黄带波长带的所述深能级的光致发光光谱强度IY与所述氮化镓区域带边波长的光谱强度IBE的强度比IY/IBE为0.05的值以下,所述光致发光光谱强度IY与所述光谱强度IBE,是指在室温下使用波长325nm的He-Cd激光器在光斑径的直径0.5mm以及功率1.2mW的激发光的条件下测定光致发光光谱而得到的光致发光光谱中的值。3.如权利要求2所述的III族氮化物半导体元件,其特征在于,所述深能级包含与碳、氢和氧中的至少任一种杂质相关联的能级。4.如权利要求1至3中任一项所述的III族氮化物半导体元件,其特征在于,所述III族氮化物支撑基体包含具有导电性的氮化镓。5.如权利要求1至4中任一项所述的III族氮化物半导体元件,其特征在于,所述氮化镓区域的生长温度为1050℃以上、1200℃以下,所述氮化镓区域的生长中V族原料与III族原料的供给摩尔比V/III为500以上。6.一种氮化镓外延衬底,其特征在于,具备:具有导电性的III族氮化物支撑基体;和具有在室温下使用波长325nm的He-Cd激光器在光斑径的直径0.5mm以及功率1.2mW的激发光的条件下测定光致发光光谱时的黄带波长带的光致发光光谱与带边波长的光谱强度的强度比为0.05以下、且设置在所述III族氮化物支撑基体的主面上的特征的氮化镓区域。7.如权利要求6所述的氮化镓外延衬底,其特征在于,所述III族氮化物支撑基体包含具有导电性的氮化镓。8.如权利要求6或7所述的氮化镓外延衬底,其特征在于,所述氮化镓区域的生长温度为1050℃以上、1200℃以下,所述氮化镓区域的生长中V族原料与III族原料的供给摩尔比V/III为500以上。2CN102569557A说明书1/10页电子器件的制作方法、外延衬底的制作方法、III族氮化物半导体元件及氮化镓外延衬底[0001]本申请是申请日为2008年7月17日的中国专利申请第200880021916.8号的分案申请。技术领域[0002]本发明涉及电子器件的制作方法、用于电子器件的外延衬底的制作方法、III族氮化物半导体元件及氮化镓外延衬底。背景技术[0003]在专利文献1中,记载了发光效率高的发光二极管、阈值低的半导体激光器这些半导体发光元件。该半导体发光元件使用能够稳定地进行高温的均匀加热的气相生长装置来制造。该气相生长装置中,在用于加热设置在基座上的衬底的电阻加