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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号(10)授权公告号CNCN102735884102735884B(45)授权公告日2014.09.10(21)申请号201210206989.2US6614245B1,2003.09.02,JP2008045969A,2008.02.28,(22)申请日2012.06.21CN202204842U,2012.04.25,(73)专利权人深圳市大族激光科技股份有限公JP2001337109A,2001.12.07,司JP2006330006A,2006.12.07,地址518000广东省深圳市南山区高新技术CN201170789Y,2008.12.24,园北区新西路9号JP2010101821A,2010.05.06,专利权人深圳市大族数控科技有限公司赵霞等.基于ANSYS的结构设计优化.《辽(72)发明人谭艳萍宋福民王星李宁宁工程技术大学学报》.2006,第25卷高云峰审查员许艳丽(74)专利代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司44224代理人何平(51)Int.Cl.G01R1/04(2006.01)G01R31/28(2006.01)(56)对比文件CN101804581A,2010.08.18,权权利要求书1页利要求书1页说明书4页说明书4页附图2页附图2页(54)发明名称飞针测试机测头支架及设计方法(57)摘要本发明涉及一种飞针测试机测头支架的设计方法,所述设计方法包括如下步骤:获取支架的结构参数和材料参数;根据所述支架的结构参数和材料参数构建支架模型;对所述支架模型进行有限元仿真,当仿真结果满足预设条件,则输出所述支架的结构参数和材料参数。根据这种方法设计出的支架满足材料和结构需求,能使测试针在受到PCB接触面的反推力后,在后退移动过程中能够保持测试针与接触面相对静止,测试针头没有发生过大偏摆,进而保证测试精度,也保证了没有留下刮痕。同时,该支架的刚度适中,不会因为刚度过高而使PCB留下凹痕,也不会因为刚度过低而导致变形过大和使用寿命过短的问题。此外,还提供此种方法设计出来的支架。CN102735884BCN10273584BCN102735884B权利要求书1/1页1.一种飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述设计方法包括如下步骤:获取支架的结构参数和材料参数;根据所述支架的结构参数和材料参数构建支架模型;对所述支架模型进行有限元仿真,当仿真结果满足预设条件,则输出所述支架的结构参数和材料参数;且,所述构建的支架为塑料材质并包括基座、分别自所述基座朝一侧延伸的第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂,及设置于所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂末端的安装部,所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂分别与所述基座的交界处设有第一凹槽,所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂分别与所述安装部的交界处设有第二凹槽,所述第一力臂与所述第二力臂对称设置,所述第三力臂和第四力臂对称设置。2.根据权利要求1所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述结构参数包括安装空间的大小、测针安装孔位的位置及支架固定孔位的位置中至少一种。3.根据权利要求1所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述材料参数包括材料的弹性系数和材质属性。4.根据权利要求1至3项中任一项所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述预设条件包括:预设的测试精度范围;小于预设被测试PCB表面所能容许承受的最大应力;测试支架的最大使用次数大于等于预测的测头支架最大使用次数。5.根据权利要求4所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述预设精度包括预设的支架受到接触反力所能容许的最大变形量。6.根据权利要求4所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,所述预设被测试PCB表面所能容许承受的最大应力采用预设接触力和支架受力后变形量的关系表示。7.根据权利要求6所述的飞针测试机测头支架的设计方法,其特征在于,在所述获取支架的结构参数的步骤之后还包括步骤:对所述结构参数进行位移比例放大处理。8.一种飞针测试机测头支架,其特征在于,其为塑料材质并包括基座、分别自所述基座朝一侧延伸的第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂,及设置于所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂末端的安装部,所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂分别与所述基座的交界处设有第一凹槽,所述第一力臂、第二力臂、第三力臂及第四力臂分别与所述安装部的交界处设有第二凹槽,所述第一力臂与所述第二力臂对称设置,所述第三力臂和第四力臂对称设置。9.根据权利要求8所述的飞针测试机测头支架,其特征在于,所述第一力臂的长度大于所述第三力臂的长度,所述安装部包括连接所述第一力臂和第三力臂末端的第一安