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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103489999103489999A(43)申请公布日2014.01.01(21)申请号201310228235.1(22)申请日2013.06.08(30)优先权数据2012-1341472012.06.13JP(71)申请人丰田合成株式会社地址日本爱知县(72)发明人水谷浩一稻泽良平池本由平多井中伴之(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227代理人顾晋伟全万志(51)Int.Cl.H01L33/62(2010.01)H01L33/40(2010.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书11页说明书11页附图10页附图10页(54)发明名称第III族氮化物半导体发光器件及其制造方法(57)摘要本发明涉及第III族氮化物半导体发光器件及其制造方法。具体而言,提供了一种包括覆盖层和接合层的第III族氮化物半导体发光器件,该器件意在抑制驱动电压的增加;还提供了一种用于制造该发光器件的方法。第III族氮化物半导体发光器件包括半导体层、p电极以及在p电极的与半导体层相反的表面上形成的覆盖层。覆盖层通过在p电极上依次堆叠粘合层和第一金属覆盖层而形成。粘合层由具有-500kJ/摩尔至-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的材料形成。第一金属覆盖层具有高于-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能。CN103489999ACN103489ACN103489999A权利要求书1/2页1.一种第III族氮化物半导体发光器件,包括:第III族氮化物半导体层;与所述半导体层接触的p电极;覆盖所述p电极的主表面的至少一部分的覆盖层;和覆盖所述覆盖层的主表面的至少一部分的接合层,其中所述覆盖层包括由具有高于-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的金属形成的第一金属覆盖层。2.根据权利要求1所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层包括设置在所述p电极与所述第一金属覆盖层之间的第二金属覆盖层,并且所述第二金属覆盖层由具有-500kJ/摩尔至-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的金属形成。3.根据权利要求1所述的第III族氮化物半导体发光器件,其包括覆盖所述半导体层的p型接触层的主表面的外周部的绝缘层,其中所述p电极覆盖所述半导体层的所述p型接触层的所述主表面的中央部并且还覆盖所述绝缘层的至少一部分,并且所述覆盖层覆盖所述p电极的所述主表面的至少一部分。4.根据权利要求3所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层覆盖所述p电极的所述主表面和侧表面。5.根据权利要求3所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层覆盖所述绝缘层的至少一部分,但不覆盖所述p电极的所述主表面的中央部。6.根据权利要求2所述的第III族氮化物半导体发光器件,其包括覆盖所述半导体层的p型接触层的主表面的外周部的绝缘层,其中所述p电极覆盖所述半导体层的所述p型接触层的所述主表面的中央部并且还覆盖所述绝缘层的至少一部分,并且所述覆盖层覆盖所述p电极的所述主表面的至少一部分。7.根据权利要求6所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层覆盖所述p电极的所述主表面和侧表面。8.根据权利要求6所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层覆盖所述绝缘层的至少一部分,但不覆盖所述p电极的所述主表面的中央部。9.根据权利要求1至8中任一项所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述接合层具有200℃或更高的熔点。10.根据权利要求1至8中任一项所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层设置为不接触所述半导体层。11.根据权利要求1至8中任一项所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述第一金属覆盖层由Pt、Au、Rh、Ag以及Pd中的任意金属形成。12.根据权利要求11所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述第二金属覆盖层由Cu、Co、Cd、Zn以及Ni中的任意金属形成。13.根据权利要求12所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述覆盖层设置为不接触所述半导体层。14.根据权利要求13所述的第III族氮化物半导体发光器件,其中所述接合层具有200℃或更高的熔点。15.一种用于制造第III族氮化物半导体发光器件的方法,所述方法包括:在生长衬底上生长半导体层的步骤;2CN103489999A权利要求书2/2页在所述半导体层上形成电极的步骤;形成覆盖所述电极的覆盖层的步骤;在所述覆盖层上形成第一接合层的步骤;在支承衬底上形成第二接合层的步骤;以及通过将所述第一接合层接合至所述第二接合层来将所述生长衬底接合至所述支承衬底的步骤,其中在所述覆盖层形成步骤中,形成具有高于-100kJ/摩尔的氧化物形成自由能的第一金属覆盖层;以及在所述衬底