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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108761414A(43)申请公布日2018.11.06(21)申请号201810513556.9(22)申请日2018.05.25(71)申请人电子科技大学地址611731四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号(72)发明人陈慧贾文凯胡全王文钦邵怀宗潘晔廖轶(74)专利代理机构成都正华专利代理事务所(普通合伙)51229代理人李蕊李林合(51)Int.Cl.G01S7/41(2006.01)G01S7/36(2006.01)G01S7/40(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图4页(54)发明名称一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法(57)摘要本发明公开了一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法,包括如下步骤:S1、根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置,选择雷达测试接收机的安放位置点,即为测试接收点;S2、使频控阵雷达发射机开始发射信号,并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据;S3、根据接收到的发射信号数据,确定各测试接收点的测试数据;S4、根据各测试接收点的空间位置和测试数据,进行频控阵二维波束图的绘制,即拟合出S形干扰波束。本发明解决了现有技术存在的实用性低、隐蔽性低、测试效率低、实施成本昂贵和资金投入大的问题。CN108761414ACN108761414A权利要求书1/2页1.一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:选择测试接收点:根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置,选择雷达测试接收机的安放位置点,即为测试接收点;S2:接收发射信号数据:使频控阵雷达发射机开始发射信号,并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据;S3:确定测试数据:根据接收到的发射信号数据,确定各测试接收点的测试数据;S4:拟合S形干扰波束:根据各测试接收点的空间位置和测试数据,进行频控阵二维波束图的绘制,即拟合出S形干扰波束。2.根据权利要求1所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S1中,预设S形干扰波束由三段波束构成。3.根据权利要求2所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S2中,接收到的信号幅度的计算公式为:p(r,θ,t)=[p1(r,θ,tp1)p2(r,θ,tp2)p3(r,θ,tp3)]式中,p(r,θ,t)为接收信号的幅度;p1(r,θ,tp1)为第1段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;p2(r,θ,tp2)为第2段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;p3(r,θ,tp3)为第3段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;第i段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度的计算公式为:式中,pi(ri,θi,tpi)为第i段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;N为阵元数;n为阵元索引;c为电磁波空间传播速度;f0为初始载频;Δfi为第i段干扰波束对应的频率增量;r为测试点相应的径向距离;θ为测试点相应的的方位角;tpi为第i段S形波束的信号传递时间;为第i段S形干扰波束对应的附加相位增量;j为虚部;d为阵元间距。4.根据权利要求3所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S2中,预设发射周期的计算公式为:式中,T为预设发射周期;ri为第i段波束的径向距离;c为电磁波空间传播速度。5.根据权利要求1所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S3中,确定测试数据的方法,包括以下步骤:S3-1:确定测试接收点:选择距离发射机最远的测试接收点作为参考测试接收点,将参考测试接收点在接收到一个预设发射周期的发射信号数据的第一时刻作为测试时刻;S3-2:确定测试时刻:根据其它测试接收点与参考测试接收点的距离确定时延信息,并根据时延信息确定对应的测试时刻;S3-3:得到测试数据:将各测试接收点在对应的测试时刻接收的发射信号数据作为测试数据。6.根据权利要求5所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤2CN108761414A权利要求书2/2页S3-2中,时延的计算公式为:τ=(R0-r0)式中,τ为时延;R0为参考测试接收点的径向距离;r0为测试接收点的径向距离。3CN108761414A说明书1/5页一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法技术领域[0001]本发明属于雷达天线技术领域,具体涉及一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法。背景技术[0002]频控阵雷达作为一种新型的雷达技术,其将频率分集思想应用于阵列天线,通过增加各天线频偏获得与距离、角度和时间三者相关的波束图,即针对固