检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102122219A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102122219A(43)申请公布日2011.07.13(21)申请号201010611140.4(22)申请日2010.12.29(30)优先权数据10-2010-00010652010.01.07KR(71)申请人三星电子株式会社地址韩国京畿道水原市(72)发明人金局炫(74)专利代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司11286代理人郭鸿禧罗延红(51)Int.Cl.G06F3/042(2006.01)权利要求书2页说明书16页附图17页(54)发明名称检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置(57)摘要本发明公开了一种检测触摸位置的方法、执行所述方法的触摸位置检测装置以及具有该触摸位置检测装置的显示装置。在检测触摸位置的方法中，发射光。接收来自发射的光的多个光束。所述光束具有彼此不同的路径。所述光束根据触摸被部分地反射。基于接收的光束中的光的量来检测触摸位置。根据本发明，可以单独地检测几个触摸元件的触摸位置。CN1029ACCNN110212221902122227A权利要求书1/2页1.一种检测触摸位置的方法，所述方法包括以下步骤：发射光；接收来自所述光的多个光束，所述光束具有彼此不同的路径，所述光束根据触摸被部分地反射；基于接收到的光束中的光的量检测触摸位置。2.根据权利要求1所述的方法，其中，单独地接收所述光束。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光束被多个触摸元件部分地反射，所述触摸元件具有彼此不同的折射率。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光通过均发射一个或多个光束的多个发光元件发射。5.根据权利要求1所述的方法，其中，通过使发射的光穿过光波导的入射表面来从所述光得到所述光束，所述入射表面具有多个倾斜表面。6.根据权利要求1所述的方法，其中，检测触摸位置的步骤包括：基于第n光束中的光的量来检测第n触摸元件的触摸位置；基于第(n-1)光束中的光的量来检测第n触摸元件和第(n-1)触摸元件的触摸位置；利用检测到的第n触摸元件的触摸位置及检测到的第n触摸元件和第(n-1)触摸元件的触摸位置来检测第(n-1)触摸元件的触摸位置，其中，n是自然数。7.一种触摸位置检测装置，所述触摸位置检测装置包括：发光部件，发射光；光波导，所述光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面，其中，光入射表面靠近发光部件设置，所述光入射到光入射表面，触摸表面被触摸件触摸，光出射表面与光入射表面相对，从光出射表面射出的光中得到多个光束，所述光束具有彼此不同的路径，所述光束根据所述触摸件而被部分地反射；光接收表面，靠近光出射表面，并且包括分别接收从光出射表面射出的光束的多个光接收元件；检测部件，基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触摸位置。8.一种显示装置，所述显示装置包括：发光部件，发射光；光波导，所述光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面，其中，光入射表面靠近发光部件设置，所述光入射到光入射表面，触摸表面被触摸件触摸，光出射表面与光入射表面相对，多个光束射出光出射表面，所述光束具有彼此不同的路径，所述光束根据所述触摸件而被部分地反射；光接收表面，靠近光出射表面，并且包括分别接收从光出射表面射出的光束的多个光接收元件；检测部件，基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触摸位置；显示面板，设置在光波导的下方，并且根据触摸位置显示图像。9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述发光部件包括发射光束的多个发光元件，2CCNN110212221902122227A权利要求书2/2页其中，光入射表面以第一倾斜角连接到光波导的触摸表面，光出射表面以第二倾斜角连接到光波导的触摸表面，第一倾斜角基本等于第二倾斜角。10.根据权利要求8所述的显示装置，其中，光波导的光入射表面包括多个第一倾斜表面，第一倾斜表面将从发光部件发射的光转换为光束，其中，光波导的光出射表面包括多个第二倾斜表面，第二倾斜表面分别面向第一倾斜表面。3CCNN110212221902122227A说明书1/16页检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置技术领域[0001]提供了一种检测触摸位置的方法、一种用于执行所述方法的触摸位置检测装置以及一种具有所述触摸位置检测装置的显示装置。更具体地讲，提供了一种检测多个触摸元件中的多个触摸位置的方法、一种用于执行所述方法的触摸位置检测装置以及一种具有所述触摸位置检测装置的显示装置。背景技术[0002]触摸面板是一种输入装置，该输入装置在具有显示器的信息通信装置和用户之间提供界面。用户用手指或笔直接接触触摸面板，从而用户和信息通信装置可以交换信息。[0003]使用触摸面板是一种交互的并且相对直观的操作计算机的方