参考单元阈值电压的调整方法、装置和测试系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102347084A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102347084A(43)申请公布日2012.02.08(21)申请号201010244481.2(22)申请日2010.08.03(71)申请人北京兆易创新科技有限公司地址100084北京市海淀区清华大学学研大厦B301室(72)发明人苏志强舒清明(74)专利代理机构北京润泽恒知识产权代理有限公司11319代理人苏培华(51)Int.Cl.G11C29/56(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图4页(54)发明名称参考单元阈值电压的调整方法、装置和测试系统(57)摘要本发明提供了一种参考单元阈值电压的调整方法、装置和测试系统，其中的方法具体包括位于非易失存储器芯片内部的控制状态机、编程装置和校验装置；其中，所述控制状态机，包括：接收模块，用于接收来自测试机台的参考单元信息；控制模块，用于根据所述参考单元信息，控制所述编程装置和校验装置工作；所述编程装置，用于对当前参考单元进行编程操作；所述校验装置，用于对当前参考单元进行校验操作，并将校验结果反馈给所述控制状态机；所述控制状态机还包括：判断模块，用于判断所述校验结果是否符合预置条件，若是，则结束当前调整，否则，通知所述控制模块，对当前参考单元继续执行控制操作。本发明用以降低调整参考单元阈值电压的时间。CN1023478ACCNN110234708402347104A权利要求书1/2页1.一种参考单元阈值电压的调整装置，其特征在于，包括位于非易失存储器芯片内部的控制状态机、编程装置和校验装置；其中，所述控制状态机，包括：接收模块，用于接收来自测试机台的参考单元信息；及控制模块，用于根据所述参考单元信息，控制所述编程装置和校验装置工作；所述编程装置，用于对当前参考单元进行编程操作；所述校验装置，用于对当前参考单元进行校验操作，并将校验结果反馈给所述控制状态机；所述控制状态机还包括：判断模块，用于判断所述校验结果是否符合预置条件，若是，则结束当前参考单元的调整，否则，通知所述控制模块，对当前参考单元继续执行控制操作。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述编程装置包括多个第一使能端，所述校验装置包括多个第二使能端；所述控制模块，用于根据所述参考单元信息，通过所述第一使能端控制所述编程装置工作，以及，通过所述第二使能端控制所述校验装置工作。3.如权利要求1或2所述的装置，还包括：外部参考输入通路，用于产生目标电流；所述校验装置，用于测量当前参考单元的电流，判断该测量电流是否小于所述目标电流，并将判断结果作为校验结果反馈给所述控制状态机；所述预置条件为，所述校验结果为真。4.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述接收模块，还用于接收来自测试机台的参考单元状态查询信息；所述控制状态机还包括：状态输出模块，用于根据参考单元状态查询信息，输出相应参考单元的调整状态。5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述调整状态包括：正在操作、操作结束和操作失败。6.一种测试系统，其特征在于，包括测试机台，以及前述1至2中任一项所述的参考单元阈值电压的调整装置；其中，所述测试机台，用于将非易失存储器芯片的参考单元信息发送至所述接收模块。7.一种参考单元阈值电压的调整方法，其特征在于，所述方法在非易失存储器芯片内部执行，包括：接收来自测试机台的参考单元信息；根据所述参考单元信息，产生第一控制信号和第二控制信号；依据所述第一控制信号，对当前参考单元进行编程操作；依据所述第二控制信号，对当前参考单元进行校验操作，得到校验结果；判断所述校验结果是否符合预置条件，若是，则当前参考单元调整完毕，否则，对当前参考单元继续执行编程操作。8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一控制信号为第一使能信号，以及，所述第二控制信号为第二使能信号。9.如权利要求7或8所述的方法，其特征在于，还包括：2CCNN110234708402347104A权利要求书2/2页接收外部输入的目标电流；所述校验步骤为，测量当前参考单元的电流，判断该测量电流是否小于所述目标电流，以该判断结果作为校验结果；所述预置条件为，所述校验结果为真。10.如权利要求7或8所述的方法，其特征在于，还包括：接收来自测试机台的参考单元状态查询信息；根据参考单元状态查询信息，输出相应参考单元的调整状态。11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述调整状态包括：正在操作、操作结束和操作失败。3CCNN110234708402347104A说明书1/7页参考单元阈值电压的调整方法、装置和测试系统技术领域[0001]本发明涉及半导体芯片测试技术领域，特别是涉及一种参考单元阈值电压的调整方法、装置和一种测试系统。背景技术[0002]为了验证