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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103919572103919572A(43)申请公布日2014.07.16(21)申请号201310740725.X(22)申请日2013.12.26(30)优先权数据2013-0043022013.01.15JP(71)申请人精工爱普生株式会社地址日本东京(72)发明人林正树渡边亮基(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240代理人余刚吴孟秋(51)Int.Cl.A61B8/00(2006.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书11页说明书11页附图12页附图12页(54)发明名称超声波测量装置、诊断装置及测量用片材以及测量方法(57)摘要本发明提供一种超声波测量装置、超声波诊断装置、超声波测量用片材以及测量方法。上述超声波测量装置可根据对象物自动地设定合适的参数。上述超声波测量装置包括:进行超声波的发送处理的发送部;进行超声波回波的接收处理的接收部;以及进行超声波测量的控制处理的处理部。发送部通过超声波测量用片材进行向对象物发送超声波的处理,接收部进行接收来自超声波测量用片材的超声波回波的处理并对处理部输出接收信号。处理部根据来自接收部的接收信号,对超声波测量用片材所记录的超声波测量用的代码信息进行解析处理。CN103919572ACN1039572ACN103919572A权利要求书1/2页1.一种超声波测量装置,其特征在于,包括:进行超声波的发送处理的发送部;进行超声波回波的接收处理的接收部;以及进行超声波测量的控制处理的处理部,所述发送部通过超声波测量用片材,进行向对象物发送超声波的处理,所述接收部进行接收来自所述超声波测量用片材的超声波回波的处理,并对所述处理部输出接收信号,所述处理部根据来自所述接收部的所述接收信号,对记录在所述超声波测量用片材上的超声波测量用的代码信息进行解析处理。2.根据权利要求1所述的超声波测量装置,其特征在于,所述处理部根据所述代码信息,设定用于控制所述发送部和所述接收部中的至少一个的控制参数,并根据所述控制参数来控制所述发送部和所述接收部中的至少一个。3.根据权利要求1或2所述的超声波测量装置,其特征在于,所述处理部根据所述代码信息,设定用于生成超声波图像数据的图像生成参数,并根据所述图像生成参数生成超声波图像数据。4.根据权利要求3所述的超声波测量装置,其特征在于,所述图像生成参数是对增益和动态范围中的至少一个进行设定的参数。5.根据权利要求1所述的超声波测量装置,其特征在于,在第一期间,所述处理部进行所述代码信息的解析处理,并根据所述代码信息设定用于控制所述发送部和所述接收部中的至少一个的控制参数以及用于生成超声波图像数据的图像生成参数;在所述第一期间后的第二期间,所述处理部根据所述控制参数控制所述发送部和所述接收部中的至少一个,并根据所述图像生成参数生成所述超声波图像数据。6.根据权利要求5所述的超声波测量装置,其特征在于,所述第一期间是所述处理部设定用于超声波测量的参数的期间,所述第二期间是所述处理部根据设定的所述参数进行超声波测量的控制处理的期间。7.根据权利要求1至6中任一项所述的超声波测量装置,其特征在于,所述代码信息是用于指定作为测量对象的部位的信息、即部位指定信息。8.根据权利要求7所述的超声波测量装置,其特征在于,所述处理部根据所述部位指定信息,设定用于作为所述测量对象的部位的测量的参数、即用于控制所述发送部和所述接收部中的至少一个的控制参数以及用于生成超声波图像数据的图像生成参数。9.根据权利要求1至8中任一项所述的超声波测量装置,其特征在于,所述处理部根据所述代码信息,取得所述超声波测量用片材的特性信息及制造信息中的至少一个。10.根据权利要求1至9中任一项所述的超声波测量装置,其特征在于,所述超声波测量用片材具有:超声波透过介质;以及埋入所述超声波透过介质中的多个反射体,2CN103919572A权利要求书2/2页所述代码信息根据所述多个反射体的反射率、个数、形状及尺寸中的至少一个来记录,所述接收部进行接收来自所述多个反射体的超声波回波的处理,并对所述处理部输出接收信号,所述处理部根据来自所述接收部的所述接收信号进行所述代码信息的解析处理。11.根据权利要求10所述的超声波测量装置,其特征在于,所述超声波测量用片材具有排列在所述超声波透过介质上的多个反射体组作为所述多个反射体,所述多个反射体组的各反射体组具有沿所述超声波测量用片材的深度方向排列的第一反射体至第p反射体,其中,p是2以上的整数,所述处理部进行通过所述第一反射体至所述第p反射体记录的所述代码信息的解析处理。12.根据权利要求11所述的超声波测量装置,其特征在于,通过所述多个反射体