一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105606034A(43)申请公布日2016.05.25(21)申请号201510671857.0(22)申请日2015.10.16(71)申请人北京奥博泰科技有限公司地址100070北京市丰台区科技园区外环西路26号院19号楼申请人李春业(72)发明人黄达泉常俏吴筱张鑫钟星辉(74)专利代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司11327代理人许向彤陈英俊(51)Int.Cl.G01B11/06(2006.01)权利要求书1页说明书7页附图4页(54)发明名称一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法(57)摘要本发明提供了一种玻璃厚度检测装置，其包括：壳体，具有能够与被测玻璃表面接触的底面部，所述底面部为平面形状且可透过光线；两个光源，相对置地隔着规定间距设置在所述壳体的内部，可发出射向所述底面部的检测用光；光电检测部，由多个光检测单元排列构成，设置在所述壳体的内部，可接收来自所述被测玻璃的反射光；玻璃厚度计算部，根据由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度参数。根据该结构，提高了测量玻璃厚度时的精度，尤其是提高了有楔角玻璃的厚度测量精度。CN105606034ACN105606034A权利要求书1/1页1.一种玻璃厚度检测装置，其特征在于，包括：壳体，具有能够与被测玻璃表面接触的底面部，所述底面部为平面形状且可透过光线；两个光源，相对置地隔着规定间距设置在所述壳体的内部，可发出射向所述底面部的检测用光；光电检测部，由多个光检测单元排列构成，设置在所述壳体的内部，可接收来自所述被测玻璃的反射光；玻璃厚度计算部，根据由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度参数。2.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于，在所述壳体的底面部设有狭缝。3.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于，在所述光电检测部的光入射侧设置有滤光片，用于滤除杂散光。4.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于，所述玻璃厚度计算部根据所述两个光源分别发出的所述检测用光照射到所述被测玻璃后反射至所述光电检测部而得到的检测信息，分别计算被测玻璃的厚度参数，并将该两个厚度参数的平均值作为最终的玻璃的厚度参数。5.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于，所述光电检测部与所述壳体的底面部平行设置。6.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于，当所述光电检测部检测到的反射光的有效波峰数为2时，判断为被测玻璃是单片玻璃，有效波峰数为4时，判断为被测玻璃是双玻中空玻璃，有效波峰数为6时，判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。7.一种玻璃厚度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将玻璃厚度检测装置的底面部放置在被测玻璃的表面，使第一光源和第二光源分别发射出检测用光；光电检测部接收由所述被测玻璃的各表面反射的反射光；玻璃厚度计算部根据所述光电检测部的输出结果，计算该被测玻璃的各厚度检测值；以及将基于第一光源的厚度检测值和基于第二光源的厚度检测值的平均值，作为该被测玻璃的各厚度参数的最终检测值。8.根据权利要求7所述的玻璃厚度检测方法，其特征在于，在所述计算该被测玻璃的各厚度检测值的步骤中，当所述光电检测部检测到的反射光的有效波峰数为2时，判断为被测玻璃是单片玻璃，有效波峰数为4时，判断为被测玻璃是双玻中空玻璃，有效波峰数为6时，判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。2CN105606034A说明书1/7页一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法技术领域[0001]本发明涉及光学测量技术领域，更为具体地，涉及一种玻璃厚度检测装置及方法。背景技术[0002]目前，主要采用光学测量的方法测量玻璃的厚度，光学测量方法不仅精度高，而且能够实现非接触测量。现有的用于测量玻璃厚度的光学测量方法中主要是利用光的折射和反射的原理，用一束光斜射在被测玻璃上，经过玻璃折射后的光束被光电二极管传感器接收，由计算机或单片机进行运算得到玻璃厚度值。例如申请号为CN200920201105的专利公开了一种玻璃厚度测量仪，申请号为CN201010528877的专利公开了一种中空玻璃厚度和铝框宽度检测装置，申请号为CN201220327620.2的专利公开了一种数码玻璃厚度仪、申请号为CN201310695005的专利公开了一种非相干成像玻璃测厚方法。[0003]在实际生产中，如图1所示，浮法玻璃常常会出现楔角，导致同一块玻璃的厚度不均匀，即玻璃的两个表面不平行。另外，中空玻璃或者三玻两腔中空玻璃在制作过程中，中空腔也很容易出现楔角。[0004]图2是表示使用现有的厚度测量装置测量玻璃厚度时的光路原理图，在此，假设被测玻璃的上下表面是相互平行的，不存在楔角。如图2所示，现有的玻璃厚度检