反射面天线的相对定位方法、相对定位系统和反射面天线.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115825517A(43)申请公布日2023.03.21(21)申请号202211505353.8H01Q1/12(2006.01)(22)申请日2022.11.28H01Q19/12(2006.01)(71)申请人深圳市通用测试系统有限公司地址518100广东省深圳市宝安区航城街道九围社区洲石路564号开大玩具厂厂房整套(72)发明人李俊于伟李强(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463专利代理师安卫静(51)Int.Cl.G01R15/00(2006.01)G01R29/10(2006.01)G01B7/30(2006.01)G01B11/00(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称反射面天线的相对定位方法、相对定位系统和反射面天线(57)摘要本发明提供了一种反射面天线的相对定位方法、相对定位系统和反射面天线，包括：定位机构检测馈源和反射面的当前相对位姿信息；调节机构在当前相对位姿信息不符合参考相对位姿信息的条件时，对馈源和/或反射面的位姿进行调整，直至通过定位机构检测的馈源和反射面的当前相对位姿信息符合参考相对位姿信息的条件为止，参考相对位姿信息为紧缩场测量系统中，测试区域的无线性能验证通过时对应的馈源和反射面的相对位姿信息。本发明中，只需要在定位机构的辅助下，采用调节机构将馈源和反射面的当前相对位姿信息调整至符合参考相对位姿信息的条件即可，大大简化了馈源和反射面之间的相对位姿调整，提高了相对位姿调整的效率。CN115825517ACN115825517A权利要求书1/2页1.一种反射面天线的相对定位系统，用于对馈源和反射面之间的相对位姿进行调整，其特征在于，所述相对定位系统包括：定位机构和调节机构，其中：所述定位机构安装于所述馈源和/或所述反射面上，用于检测所述馈源和所述反射面的当前相对位姿信息；所述调节机构安装于所述馈源和/或所述反射面上，用于在所述当前相对位姿信息不符合参考相对位姿信息的条件时，对所述馈源和/或所述反射面的位姿进行调整，直至通过所述定位机构检测的所述馈源和所述反射面的当前相对位姿信息符合所述参考相对位姿信息的条件为止，其中，所述参考相对位姿信息为紧缩场测量系统中，测试区域的无线性能验证通过时对应的所述馈源和所述反射面的相对位姿信息。2.根据权利要求1所述的相对定位系统，其特征在于，所述定位机构包括：位置传感器和分别安装于所述馈源和所述反射面上的角度传感器；所述位置传感器，用于检测所述馈源和所述反射面的当前相对位置信息；所述角度传感器，用于分别检测所述馈源的当前姿态信息和所述反射面的当前姿态信息，并根据所述馈源的当前姿态信息和所述反射面的当前姿态信息确定所述馈源和所述反射面的当前相对姿态信息。3.根据权利要求2所述的相对定位系统，其特征在于，所述角度传感器包括以下任一种：三轴加速度角度传感器和陀螺仪；所述馈源上安装的角度传感器的数量为多个，且所述反射面上安装的角度传感器的数量为多个。4.根据权利要求2所述的相对定位系统，其特征在于，所述位置传感器包括以下任一种：安装于所述馈源或所述反射面上的激光定位器、搭载摄像头的视觉定位机构，其中，所述激光定位器包括以下任一种：多个光束的激光定位器、多个单光束的激光定位器，所述搭载摄像头的视觉定位机构中，摄像头安装于所述馈源上，定位标签安装于所述反射面上，或，所述摄像头安装于所述反射面上，所述定位标签安装于所述馈源上。5.根据权利要求2所述的相对定位系统，其特征在于，所述位置传感器和所述角度传感器在所述馈源和所述反射面上的安装位置与所述馈源和所述反射面之间的信号路径不重叠。6.根据权利要求1所述的相对定位系统，其特征在于，所述调节机构包括以下任一种：多轴关节、万向关节。7.一种反射面天线的相对定位方法，其特征在于，应用于权利要求1至6中任一项所述的反射面天线的相对定位系统，包括：获取所述相对定位系统中的定位机构检测的馈源和反射面的当前相对位姿信息；在所述当前相对位姿信息不符合参考相对位姿信息的条件时，通过所述相对定位系统中的调节机构对所述馈源和/或所述反射面的位姿进行调整，直至通过所述定位机构检测的所述馈源和所述反射面的当前相对位姿信息符合所述参考相对位姿信息的条件为止，其中，所述参考相对位姿信息为紧缩场测量系统中，测试区域的无线性能验证通过时对应的所述馈源和所述反射面的相对位姿信息。8.根据权利要求7所述的相对定位方法，其特征在于，所述当前相对位姿信息包括：当前相对姿态信息和当前相对位置信息；2CN115825517A权利要求书2/2页所述参考相对位姿信息的条件包括：参考相对姿态信息的条件和参考相对位置信息的条件，其中，所述参考相对姿态信息的条