一种1553B总线收发器模块专用测试插座.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114200167A(43)申请公布日2022.03.18(21)申请号202111340881.8(22)申请日2021.11.12(71)申请人北京时代民芯科技有限公司地址100076北京市丰台区东高地四营门北路2号申请人北京微电子技术研究所(72)发明人苏钰姚永昶赵康张鹏伟邵昕屈豆(74)专利代理机构中国航天科技专利中心11009代理人张辉(51)Int.Cl.G01R1/04(2006.01)G01R31/00(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图4页(54)发明名称一种1553B总线收发器模块专用测试插座(57)摘要一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；基座中心开设有凹槽，测试座容纳于所述凹槽内；测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽；测试盖设置于基座上方，测试盖与基座相卡接，测试盖下方设有凸台，通过旋拧测试盖上的锁紧装置，将收发器模块固定在测试凹槽中；针座设置在基座下方，测试座与基座均开设有探针插孔，探针通过针座装配在探针插孔内。本发明操作方便、使用寿命长、便于维护更换。应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。CN114200167ACN114200167A权利要求书1/1页1.一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：包括探针(1)、基座(2)、测试座(3)、针座(4)、弹簧(10)以及测试盖(12)；基座(2)中心开设有凹槽，测试座(3)固定于基座(2)中心开设的凹槽中；所述测试座(3)为框型结构，中心开设有测试凹槽，用于放置1553B总线收发器模块；测试座(3)和基座(2)之间设有弹簧(10)；所述基座(2)固定在PCB板上；所述针座(4)固定在基座(2)下表面，针座上设置有探针定位孔，基座和测试座(3)上均设置有探针插孔，且针座上的探针定位孔、基座和测试座上的探针插孔的布局均与收发器模块管脚布局一致，探针固定在针座的探针定位孔中，并从对应的基座探针插孔中穿出；测试盖(12)下部设置有凸台，顶部设计有锁紧装置，锁紧装置与凸台连接，旋拧锁紧装置能够控制凸台升降；测试时，1553B总线收发器模块放置于测试座(3)内，测试盖(12)通过两侧的卡接机构卡接在基座上，初始时，探针和1553B总线收发器模块的管脚不接触；旋拧测试盖上锁紧装置，测试盖的凸台下降，将放置在测试座上的1553B总线收发器模块压紧，同时给测试座施加压力使其下降，使得探针和1553B总线收发器模块的管脚接触，实现插座闭合；反方向旋拧测试盖的锁紧装置，凸台将会上升，弹簧(10)的作用力将测试座推回初始位置，插座从闭合状态变开合状态。2.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：弹簧(10)使得测试座(3)能够向下按压1mm。3.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：基座(2)、测试座(3)和针座(4)使用绝缘材料制成，在表面制作标识符号，明确标识1553B总线收发器模块的第一引脚方向。4.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：探针(1)为弹性探针，伸缩范围为1mm。5.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：测试盖下部的凸台材质为陶瓷，测试盖除凸台以外的材质为不锈钢。6.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：探针(1)材质为黄铜合金。2CN114200167A说明书1/3页一种1553B总线收发器模块专用测试插座技术领域[0001]本发明涉及一种1553B总线收发器模块专用测试插座，属于电路测试技术领域。背景技术[0002]集成总线隔离变压器的双通道1553B总线收发器模块是一款符合MIL‑STD‑1553B总线标准，并在内部集成了双通道总线隔离变压器的1553总线接口器件。该模块内部中的变压器受工艺影响，导致其性能参数不稳定，为了检测关键参数批次一致性问题，需要进行大批量的测试。[0003]1553B总线收发器模块采用LCCC24封装形式，其30个功能管脚排列于陶瓷管壳底面。目前国内市场没有对应的测试插座。发明内容[0004]本发明的目的在于提供一种1553B总线收发器模块专用测试插座，实现对1553B总线收发器模块的测试。[0005]本发明目的通过如下技术方案予以实现：[0006]一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；[0007]基座中心开设有凹槽，测试座固定于基座中心开设的凹槽中；所述测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽，用于放置1553B总线收发器模块；测