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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115902799A(43)申请公布日2023.04.04(21)申请号202211178504.3(22)申请日2022.09.26(30)优先权数据21200244.82021.09.30EP(71)申请人罗斯蒙特储罐雷达股份公司地址瑞典默恩吕克(72)发明人乌尔班·布隆贝格拉尔斯-奥弗·拉松(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227专利代理师魏亚茹(51)Int.Cl.G01S7/41(2006.01)G01F23/284(2006.01)权利要求书3页说明书7页附图6页(54)发明名称确定罐中的产品的填充物位的方法和雷达物位计系统(57)摘要本发明提供了确定罐中的产品的填充物位的方法和雷达物位计系统。确定罐中的产品的填充物位的方法使用包括收发器、天线和处理电路的雷达物位计系统,该方法包括以下步骤:生成并发射发射信号;接收由发射信号的反射产生的反射信号;基于发射信号和反射信号,为每个表面回波候选确定指示距离的第一度量和指示距离的变化率分布的第二度量;基于对每个表面回波候选的第二度量的评估,将一个表面回波候选指定为最有可能对应于发射信号在产品的表面处的单次反射;以及基于所指定的表面回波候选的第一度量确定填充物位。CN115902799ACN115902799A权利要求书1/3页1.一种确定罐中的产品的填充物位的方法,所述方法使用包括收发器、天线和处理电路的雷达物位计系统,所述方法包括下述步骤:由所述收发器生成并发射电磁发射信号;由所述天线朝向所述罐中的所述产品辐射所述发射信号;由所述天线朝向所述收发器返回由所述发射信号的反射产生的电磁反射信号;由所述处理电路基于所述发射信号和所述反射信号为表面回波候选集合中的每个表面回波候选确定:所述表面回波候选的指示所述天线与对应于所述表面回波候选的表面候选之间的距离的第一度量;以及所述表面回波候选的指示所述天线与对应于所述表面回波候选的所述表面候选之间的距离的变化率分布的第二度量;基于对所述表面回波候选集合中的每个表面回波候选的第二度量的评估,将所述表面回波候选集合中的一个表面回波候选指定为最有可能对应于所述发射信号在所述产品的表面处的单次反射;以及基于被指定为最有可能对应于所述发射信号在所述产品的表面处的反射的表面回波候选的第一度量确定所述填充物位。2.根据权利要求1所述的方法,其中,指定步骤包括下述步骤:将所述表面回波候选集合中的每个表面回波候选的第二度量与指示所述距离的变化率分布的阈值宽度的预定阈值度量进行比较;以及当表面回波候选的子集中的每个表面回波候选的第二度量指示比所述阈值宽度大的变化率分布宽度时,将所述子集中的表面回波候选中的一个表面回波候选指定为最有可能对应于所述发射信号在所述产品的表面处的单次反射的表面回波候选。3.根据权利要求2所述的方法,其中,指定步骤包括下述步骤:对表面回波候选的子集中的每个表面回波候选的第一度量进行评估;以及当所述子集中的第一表面回波候选的第一度量和所述子集中的第二表面回波候选的第一度量指示所述天线与对应于所述第一表面回波候选的第一表面候选之间的距离是所述天线与对应于所述第二表面回波候选的第二表面候选之间的距离的整数倍时,将所述第二表面回波候选指定为最有可能对应于所述发射信号在所述产品的表面处的单次反射的表面回波候选。4.根据权利要求1或2所述的方法,其中,为所述表面回波候选集合中的每个表面回波候选确定第一度量和第二度量的步骤包括下述步骤:确定指示所述反射信号与所述发射信号之间的差的测量信号;基于所述测量信号确定每个表面回波候选的第一度量;以及基于所述测量信号确定每个表面回波候选的第二度量。5.根据权利要求4所述的方法,其中,通过将所述反射信号和所述发射信号混合来确定所述测量信号。6.根据权利要求4或5所述的方法,其中:为每个表面回波候选确定第一度量和第二度量的步骤还包括基于所述测量信号确定距离‑距离比矩阵的步骤;并且基于所述距离‑距离比矩阵确定每个表面回波候选的第一度量和第二度量。7.根据权利要求6所述的方法,其中,通过对所述测量信号执行二维数字傅里叶变换来2CN115902799A权利要求书2/3页确定所述距离‑距离比矩阵。8.根据权利要求1或2的方法,还包括下述步骤:接收指示所述罐中的所述产品的持续干扰的信号;以及响应于接收所述信号而进行权利要求1或2的步骤。9.一种雷达物位计系统,所述雷达物位计系统用于确定罐中的产品的填充物位,所述雷达物位计系统包括:收发器,所述收发器用于生成、发射和接收电磁信号;天线,所述天线耦接至所述收发器,并且所述天线配置成朝向所述罐中的所述产品辐射来自所述收发器的电磁发射信号并且朝向所述收发器返回由所述发射信号的反射产生的电磁反射信