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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115902988A(43)申请公布日2023.04.04(21)申请号202211369256.0(22)申请日2022.11.03(71)申请人深圳市雷立科技有限公司地址518100广东省深圳市宝安区福海街道新田社区新塘路44-1号A402(72)发明人项飙雷锦春罗宇标夏跃春(74)专利代理机构深圳市创富知识产权代理有限公司44367专利代理师潘霞(51)Int.Cl.G01T1/16(2006.01)G06V20/52(2022.01)G06V10/762(2022.01)权利要求书3页说明书9页附图3页(54)发明名称一种核辐射探测方法及核辐射探测器(57)摘要本发明公开了一种核辐射探测方法及核辐射探测器,其中方法包括:当核辐射探测机构进入待探测环境,关闭遮光板避免环境光进入摄像机中;开启灯条使灯光经导光板折射进入摄像机,控制灯光亮度以使摄像机拍摄到的图像灰阶值处于敏感区;控制摄像机进行拍摄,获取连续的多帧初始图像;对于任意一帧初始图像的每一个像素点:获取像素点在各帧初始图像中的灰阶值;根据像素点在各帧初始图像中的灰阶值,获取像素点的参照灰阶值;根据各个像素点的参照灰阶值,生成参照图像;将每一帧初始图像与参照图像进行对比,获得响应像素点;根据响应像素点在每一帧初始图像的出现频率,获得待探测环境的核辐射探测结果。本发明可以提高核辐射探测精确度。CN115902988ACN115902988A权利要求书1/3页1.一种核辐射探测方法,其特征在于,所述方法应用于核辐射探测机构,所述核辐射探测机构包括以CCD和/或CMOS为传感器的摄像机,所述摄像机的镜头上方覆盖有导光板,所述导光板与设置在其侧边的灯条连接,所述导光板上方设置有遮光板;包括:步骤S1、当所述核辐射探测机构进入待探测环境,关闭所述遮光板避免环境光进入所述摄像机中;开启所述灯条使灯光经所述导光板折射进入所述摄像机,控制所述灯光亮度以使所述摄像机拍摄到的图像灰阶值处于敏感区;其中,所述敏感区为积极响应核辐射的灰阶值范围50‑150;步骤S2、控制所述摄像机进行拍摄,在所述待探测环境中获取连续的多帧初始图像;步骤S3、对于任意一帧所述初始图像的每一个像素点:获取所述像素点在各帧所述初始图像中的灰阶值;根据所述像素点在各帧所述初始图像中的灰阶值,获取所述像素点的参照灰阶值;步骤S4、根据各个所述像素点的所述参照灰阶值,生成参照图像;其中,所述参照图像为不受核辐射影响的图像;步骤S5、将每一帧所述初始图像中的像素点与所述参照图像中相同位置的像素点进行对比,获得响应像素点;步骤S6、根据所述响应像素点在每一帧所述初始图像的出现频率,获得所述待探测环境的核辐射探测结果。2.根据权利要求1所述的核辐射探测方法,其特征在于,在步骤S1之前,所述方法还包括:当所述核辐射探测机构进入待探测环境,保持所述遮光板开启,使环境光经所述导光板进入所述摄像机;其中,所述环境光的光强保证所述摄像机拍摄的导光板灰阶值处于预设范围,所述预设范围保证所述导光板内的扩散点被所述摄像机清晰拍摄;控制所述摄像机进行拍摄,获得并记录所述导光板上的所述扩散点位置;其中,所述扩散点位置对应的像素点在所述初始图像中进行排除。3.根据权利要求1所述的核辐射探测方法,其特征在于,所述导光板和所述摄像机镜头之间设置有均光膜,所述均光膜用于对进入所述摄像机的光进行分散均匀。4.根据权利要求1所述的核辐射探测方法,其特征在于,所述摄像机除镜头朝向面以外的所有面都设置有辐射遮挡壁,用于避免核辐射从所述镜头朝向面以外的方位进入所述摄像机。5.根据权利要求1所述的核辐射探测方法,其特征在于,所述步骤S3包括:步骤S301、对于任意一帧所述初始图像的每一个像素点:获取所述像素点在各帧所述初始图像中的灰阶值;步骤S302、根据所述像素点在各帧所述初始图像中的灰阶值,获得所述像素点的各个灰阶值在不同灰阶值范围内出现的频次,将出现最多频次的灰阶值范围确定为参照灰阶值范围;步骤S303、对所述参照灰阶值范围进行聚类运算,获得聚类核心,将所述聚类核心确定为所述参照灰阶值。6.一种核辐射探测器,其特征在于,所述核辐射探测器包括:核辐射探测机构和主控制器;2CN115902988A权利要求书2/3页所述核辐射探测机构包括:以CCD和/或CMOS为传感器的摄像机,所述摄像机的镜头上方覆盖有导光板,所述导光板与设置在其侧边的灯条连接,所述导光板上方设置有遮光板;所述主控制器包括:光源控制模块、拍摄控制模块、参照灰阶值获取模块、参照图像生成模块、响应像素点获取模块以及探测结果获得模块;所述光源控制模块,用于当所述核辐射探测机构进入待探测环境,关闭所述遮光板避免环境光进入所述摄像机中;开启所