测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
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测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。涉及计算机技术领域,尤其涉及应用程序的测试领域,可应用于智能硬件、人工智能、物联网等领域。具体实现方案为:获取服务器响应于业务请求返回的请求结果,请求结果包括基础数据段和结构数据段;响应于第一测试请求,将对基础数据段进行异常处理,生成的一组第一测试数据发送给待测应用程序的业务层,以获取业务层的第一响应结果;响应于第二测试请求,将对结构数据段进行异常处理,生成的一组第二测试数据发送给业务层,以获取业务层的第二响应结果;根据多个请求响应结果,获得业务层的测试
测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取待测试代码中类与方法之间的第一对应关系;在所述待测试代码中加入分支测试探针;根据所述待测试代码中加入的所述分支测试探针的数量确定第二对应关系;其中,所述第二对应关系包括所述待测试代码中方法与所述方法中包含的分支数量之间的对应关系;根据所述第一对应关系和第二对应关系确定所述待测试代码的测试场景信息。通过本公开实施例自动获得待测试代码中类、方法、方法中分支数量之间的对应关系,进而可以通过上述对应关系指导测试人员完善所要搭建的测试场景,不
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本公开实施例提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中,测试方法包括:针对待测试容器中的待测试组件,筛选出引用所述待测试组件的目标页面,将所述目标页面作为待测试页面;跳转至所述待测试页面,对所述待测试页面进行测试。本公开实施例中,考虑到发生改动的待测试组件可能只被部分页面引用,提出在测试过程中精准定位待测试组件影响的页面范围,筛选出待测试页面,因此只需对待测试页面进行测试,从而能够降低测试的页面数量,提高测试效率。
测试方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
本公开涉及一种测试方法、装置、存储介质及电子设备,以减少测试过程中用于测试数据获取的时间成本和人力成本,减少数据获取代码的冗余,提高测试效率。该方法包括:接收测试请求;响应于测试请求,从测试用例集中调用目标测试用例,目标测试用例基于待测业务场景所需的业务字段从测试数据模型层中调用关联的目标测试数据模型,测试数据模型用于维护具有业务关联性的业务字段,且业务字段与数据源层关联,数据源层用于为测试数据模型层中测试数据模型提供测试数据;通过目标测试数据模型中与待测业务场景相关的目标业务字段,从数据源层中获取目标业
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本发明实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:当接收到对待测试应用程序进行测试的测试指令时,获取各目标测试环境配置信息并显示;在检测到触发目标操作时,基于各目标测试环境配置信息构建目标测试环境;基于各目标测试环境对所述待测试应用程序进行测试。本发明实施例的技术方案,以自动化的方式实现了对多种测试环境的构建与维护,在利用目标测试环境配置信息使测试环境维护维度进一步精细化的同时,提高了测试工作的效率。