X射线衍射法残余应力测试.docx

目录TOC\o"1-3"\h\z\uHYPERLINK\l"_Toc338154884"1.概述PAGEREF_Toc338154884\h3HYPERLINK\l"_Toc338154885"1.1X射线残余应力测试技术和测量装置的进展PAGEREF_Toc338154885\h3HYPERLINK\l"_Toc338154886"a.测试技术的进展PAGEREF_Toc338154886\h4HYPERLINK\l"_Toc338154887"b.测量装置的进展PAGEREF_Toc338154887\h5HYPERLINK\l"_Toc338154888"1.2测试标准PAGEREF_Toc338154888\h6HYPERLINK\l"_Toc338154889"2、测定原理及方法：PAGEREF_Toc338154889\h7HYPERLINK\l"_Toc338154890"2.1二维残余应力PAGEREF_Toc338154890\h7HYPERLINK\l"_Toc338154891"2.1.1原理PAGEREF_Toc338154891\h7HYPERLINK\l"_Toc338154892"2.1.2方法PAGEREF_Toc338154892\h10HYPERLINK\l"_Toc338154893"2.2三维残余应力PAGEREF_Toc338154893\h16HYPERLINK\l"_Toc338154894"2.2.1沿深度分布的应力测定一剥层法PAGEREF_Toc338154894\h17HYPERLINK\l"_Toc338154895"2.2.2X射线积分法(RIM)PAGEREF_Toc338154895\h18HYPERLINK\l"_Toc338154896"2.2.3多波长法PAGEREF_Toc338154896\h21HYPERLINK\l"_Toc338154897"3、X射线残余应力测定法的优、缺点PAGEREF_Toc338154897\h22HYPERLINK\l"_Toc338154898"4、一些应用PAGEREF_Toc338154898\h23HYPERLINK\l"_Toc338154899"参考文献：PAGEREF_Toc338154899\h24X射线衍射法残余应力测试原理、计算公式、测试方法的优缺点、目前主要应用领域。概述X射线法是利用X射线入射到物质时的衍射现象测定残余应力的方法。包括X射线照相法、X射线衍射仪法和X射线应力仪法。1.1X射线残余应力测试技术和测量装置的进展早在1936年，Glocker等就建立了关于x射线应力测定的理论。但是当时由于使用照相法，需要用标准物质粉末涂敷在被测试样表面以标定试样至底片的距离，当试样经热处理或加工硬化谱线比较漫散时，标准谱线与待测谱线可能重叠，测量精度很低，因此，这种方法未受到重视，直到二十世纪四十年代末还有人认为淬火钢的应力测定是不可能的。只有在使用衍射仪后，X射线应力测定才重新引起人们的重视，并在生产中日渐获得广泛应用。美国SAE在巡回试样测定的基础上，于1960年对X射线应力测定技术进行了全面的讨论。日本于1961年在材料学会下成立了X射线应力测定分会，并在1973年颁布了X射线应力测定标准方法。a.测试技术的进展在二十世纪五十年代，X射线应力测定多采用0°~45°法(又称两次曝光法)，这种方法在dψϕ与sin2ψ有较好的线性关系时误差不大，但当试件由于各种原因，dψϕ与sin2ψ偏离离直线关系时，0°~45°法就会产生很大误差。为了解决这个问题，德国E.Macherauch在1961年提出了X射线应力测定的sin2ψ法，使x射线应力测定的实际应用向前迈进了一大步。与此同时，经典的聚焦法也被准聚焦法和平行光束法所取代。其中，平行光束法允许试样位置在一定范围内变化，这就为在生产现场应用X射线应力测定技术创造了有利条件。该方法的缺点是衍射线的强度低、分辨率差，对低强度而又较漫散的谱线，测量精度不高。准聚焦法介于平行光束法和聚焦法之间，既有较高的强度和分辨率，又有一定的试样设置的宽容度，在衍射仪上用准聚焦法测定应力时，试样设置不当引起的误差可以从ahkl与直线之斜率求得，所利用的关系为:，式中，为试样表面对测角仪中心的偏离量，R为测角仪半径，a0为试样的精确点阵常数，ahkl为由各(hkl)面的测量值计算出的点阵常数。上述0°~45°法和sin2ψ法就是通常所称的常规法(或称同倾法)，这些测试方法在测定工件特殊部位